2019-12-23   Optisches Nahfeld-Raster-Mikroskop und AFM (Technische Universität München)
Wir benötigen ein System für die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung. Das System soll zusätzlich zeitaufgelöste magnetische Mikroskopie mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung in Reflektion und Transmission ermöglichen sowie die Messung plasmonischer Anregungen in Nanostrukturen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung. Dazu benötigen wir ein optisches Nahfeld-Raster-Lichtmikroskop für ultraschnelle spektroskopische Messungen mit hoher zeitlicher … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Neaspec GmbH
2011-05-05   Computergestütztes Messsystem für mikroskopische Objektträger (Physikalisch-Technische Bundesanstalt)
Lieferung eines computergestützten Messsystems für mikroskopische Objektträger. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Nikon GmbH