2015-10-09Waferprober für Hochtemperatur und Hochspannung (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Das Fraunhofer IMS benötigt ein neues oder neugestaltetes, halb- oder vollautomatisches Waferprober-System für (automatische) Parametermessungen auf Waferebene und die Charakterisierung von CMOS-Bauelementen.
Das Waferprober-System soll aus einem Waferprober, zwei Nadelkarten und einem HV-Regal bestehen.
Der Waferprober soll einen Waferchuck für Siliziumwafer von 200 mm Durchmesser und Siliziumwaferstücke beliebiger Form mit Größen bis minimal 50 mm x 50 mm besitzen. Der Waferchuck soll so konzipiert …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:aps Solutions GmbH