2023-05-31Vergabeverfahren zur Lieferung eines Rasterkraftmikroskop-TIRF-Kombination (Universität Heidelberg)
Ausgeschrieben wird die Lieferung eines Rasterkraftmikroskop-TIRF-Kombination.
Aufgrund der Vorgaben des Bewilligungsverfahrens für Großgeräte sind die maximal zur Verfügung stehenden Finanzmittel begrenzt und enden bei 560.000,- EUR (einschließlich Mehrwertsteuer oder vergleichbar, Zoll und etwaigen Skonti). Angebote, die diesen Grenzwert überschreiten, können nicht berücksichtigt werden. Kalkulatorisch anzugebende Mehrwertsteuer und Zollgebühren sind Bestandteil des Grenzwerts.
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2023-04-18Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy) (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Gerät für die Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy) anzuschaffen. Das System soll durch Rasterkraftmikroskopie (unterstützt durch optische Charakterisierung) geeignet sein, Oberflächen und darauf immobilisierte Strukturen mit nanoskaliger Auflösung zu charakterisieren und dabei die Topographie sowie mechanische Eigenschaften lateral aufgelöst sowohl an Luft wie auch in Flüssigkeiten darzustellen. Das System sollte aus einem …
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2023-04-17Energiedispersive Röntgenspektrometer für die Röntgenmikroanalyse am Elektronenmikroskop (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt zwei stickstofffreie, energiedispersive Röntgenspektrometer (EDX) für die qualitative und quantitative Röntgenmikroanalyse an einem Elektronenmikroskop anzuschaffen.
Das erste EDX System soll insbesondere eine hohe Sammeleffizienz für die erzeugte Röntgenstrahlung, einen hohen Impulsdurchsatz, eine hohe Performance im Bereich der leichten Elemente sowie eine gute Energieauflösung bieten.
Das zweite EDX System soll sich vor allem durch eine einfache und …
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2022-08-22AFM Messgerät (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird in diesem Verfahren ein AFM Messgerät.
Das AFM soll das Kernstück der topographischen Untersuchung von Oberflächen mit Nanometerauflösung darstellen und im Reinraum der Universität Paderborn aufgestellt werden.
Eine Analyse von waferskaligen Bauelementen stellt große Anforderungen an die Wafergröße (bis zu 2"), die Strukturgröße und die Strukturhomogenitäten. Die verwendeten optischen Bauelemente basieren auf zum Beispiel Wellenleiterstrukturen, die eine extrem hohe Anforderung an die …
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