Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Cameca Science & Metrology Solutions erwähnt wird
2011-12-13Sekundär Ionen Massenspektrometer (SIMS) (Helmholtz-Zentrum für Umweltforschung GmbH - UFZ)
Sekundär Ionen Massenspektrometer (SIMS) mit folgenden Eigenschaften:
— UHV Vakuumkammer mit einem Betriebsdruck < 1E-9 hPa,
— Primärionenstrahlen:
—— Sauerstoff und Cesium, wechselweise zu benutzen,
—— Ungepulster Betrieb für hohen duty cycle,
—— Sauerstoffionenstrahl mit einer lateralen Auflösung des Ionenbildes besser als 200 nm,
—— Cesiumionenstrahl mit einer lateralen Auflösung des Ionenbildes besser als 50 nm,
— Elektronenstrahl für Ladungsausgleich,
— Automatisierung für beste Wiederholbarkeit von …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Cameca Science & Metrology Solutions