Anbieter: Intego GmbH

Eine archivierte Beschaffung

Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Intego GmbH erwähnt wird

2017-08-25   Substratqualifizierungslabor-Gerät zur zerstörungsfreien, vollflächigen Detektion oberflächennäher Kristallfehler in... (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe)
Das Fraunhofer IISB beschafft ein hochauflösendes Gerät zur zerstörungsfreien, vollflächigen Detektion oberflächennaher Kristallfehler für Wafer (Durchmesser >=150mm) aus Siliziumkarbid (SiC) und optional anderen Halbleitermaterialien großer Bandlücke (WBG). Relevante Kristallfehler, z. B. Kratzer, Partikel und Pits bis hin zu ausgedehnten Materialdefekten wie BPDs, müssen in Substraten, Epitaxieschichten und teilprozessierten Wafern charakterisiert und über die verschiedenen Prozessstadien nachverfolgt … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Intego GmbH