2013-02-01Röntgendiffraktometer für Dünnschichtanalytik und Epitaxie (Universität Leipzig)
Gefordert ist ein modulares hochauflösendes Röntgendiffraktometer entsprechend dem neuesten Stand der Technik, welches ohne jegliche Einschränkungen die folgenden Messmodi abdecken muss:
(a) Hochauflösende Röngtendiffraktometrie mit Parallelstrahloptik und Primär- und Sekundärdivergenz um 12 arcsec, für höchstaufgelöste Reciprocal Space Maps und die entsprechenden Einzelscans, für symmetrische, asymmetrische und schräg-symmetrische Reflexe.
(b) HR-XRD -Rockingkurven mit offenem Detektor,
(c) …
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2011-05-17Hochauflösendes Röntgendiffraktometer (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Zur Analyse von Dünnschicht-Heterostrukturen bezüglich struktureller Parameter wie Gitterparameter, Zusammensetzung, Relaxationseffekte, Schichtdicken, Schichtrauhigkeiten, struktureller Perfektion und Schichthomogenität planen wir die Beschaffung eines neuen hochauflösenden Röntgendiffraktometers. Die Variation dieser strukturellen Parameter sollen über Wafer bis zu 100 mm Durchmesser analysiert werden. Das Einjustieren der Proben, die Messabläufe und Auswertungen müssen schnell, exakt und zu einem …
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2011-05-17Pulver Röntgendiffraktometer (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Zur Analyse von Pulverproben, polykristallinen Schichten, nanokristallinen Schichten und epitaktischen Heterostrukturen bezüglich Phaseninhalt, Kristallitgröße, Kristallstruktur, Gitterparameter, Zusammensetzung, Schichtdicke, Stress und Textur planen wir die Beschaffung eines neunen Röntgendiffraktometers. Ein hohes Maß an analytischer Flexibilität mit verschiedenen optischen Aufbauten für eine große Variation von Proben soll zur Verfügung stehen. Das Einjustieren der Proben, die Messabläufe und …
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