FIB/SEM-Dualbeam-System

RWTH Aachen

Gegenstand der Ausschreibung ist ein kombiniertes Gerät zur Präparation von Proben für TEM und Atomsonde mit einem fokussierten Ionenstrahl und zur Durchführung von Rasterelektronenmikroskopiemessungen. Das Angebot muss alle zum Betrieb erforderlichen Komponenten, die zum Betrieb benötigte Software sowie ein Schulungs- und Wartungskonzept beinhalten.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-08-21. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-07-12.

Wer?

• • RWTH Aachen

Wie?

• • Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) › Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften