Hochauflösendes FIB System für Inspektion mit Feldemissions Rasterelektronen Mikroskop

Fraunhofer Gesellschaft e.V.

Hochauflösendes FIB (Fokussierter Ionenstrahl) System für Inspektion mit FESEM (Feldemissions Rasterelektronen Mikroskop).
Das Gerät wird für 3-D Material Charakterisierung, Fehleranalyse und Prozesskontrolle für 2“ – 4“ Wafer in Reinraum gebraucht.
Die Anlage muss innerhalb einer Fläche von 300 cm x 150 cm aufgestellt werden können.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-04-25. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-03-02.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• Carl Zeiss NTS GmbH

Wer?

• Fraunhofer Gesellschaft e.V.

Wie?

• Industrielle Maschinen

Wo?

• Freiburg › Freiburg im Breisgau, Stadtkreis

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2011-03-02	Auftragsbekanntmachung
2011-05-26	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2011-03-02)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Industrielle Maschinen
Menge oder Umfang: 1 Stck.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Industrielle Maschinen 📦

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Postanschrift: Hansastr. 27c
Postleitzahl: 80686
Postort: München
Kontakt
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de 🌏
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧
Telefon: +49 891205-3229 📞
Fax: +49 891205-7548 📠

Referenz
Daten
Absendedatum: 2011-03-02 📅
Einreichungsfrist: 2011-04-25 📅
Veröffentlichungsdatum: 2011-03-04 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2011/S 44-072599
ABl. S-Ausgabe: 44
Zusätzliche Informationen

Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nichtberücksichtigte Angebote (§§ 19, 22 EG).

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Hochauflösendes FIB (Fokussierter Ionenstrahl) System für Inspektion mit FESEM (Feldemissions Rasterelektronen Mikroskop).

Das Gerät wird für 3-D Material Charakterisierung, Fehleranalyse und Prozesskontrolle für 2“ – 4“ Wafer in Reinraum gebraucht.

Die Anlage muss innerhalb einer Fläche von 300 cm x 150 cm aufgestellt werden können.

Es werden Varianten akzeptiert ✅
Dauer: 5 Monate
Referenznummer: BM 005/220897/CL
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Freiburg.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung: — Firmenprofil.
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:

— Umsätze der letzten 3 Geschäftsjahre,

— Eigenerklärung über das ordnungsgemäße Abführen von Steuern und Sozialabgaben,

— Eigenerklärung, dass kein Insolvenzverfahren in Eröffnung ist, eröffnet wurde oder mangels Masse abgelehnt wurde.

Technische und berufliche Fähigkeiten: — komplette Referenzen von vergleichbaren Anlagen, nicht älter als 3 Jahre.
Auftragsausführung
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln: Siehe Verdingungsunterlagen.
Sonstige besondere Bedingungen:

Die unter III.2 geforderten Unterlagen sind spätestens bis zu dem unter IV.3.4 genannten Termin vollständig vorzulegen. Unvollständige Unterlagen führen zum Ausschluss.

Verfahren
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2011-06-06 📅
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Name des öffentlichen Auftraggebers: Fraunhofer Gesellschaft e.V.
Kontakt
Kontaktperson: Carla Lönz
Internetadresse: www.fraunhofer.de 🌏
Name: Fraunhofer Gesellschaft
Postanschrift: Nur Elektronisch
Kontaktperson: BM 005/220897/CL
Frau Lönz
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧

Referenz
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: BM 005/220897/CL

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Kaiser-Friedrich-Str. 16
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53175
Land: Deutschland 🇩🇪
Name: Vergabeprüfstelle des BMBF Referat Z 23
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1 genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §107 Abs. 3 Satz1 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden sollen, werden vor dem Zuschlag gem. §101a GWB informiert.

Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Postanschrift: Heinemannstr. 2
Quelle: OJS 2011/S 044-072599 (2011-03-02)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2011-05-26)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2011-05-26 📅
Veröffentlichungsdatum: 2011-05-28 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2011/S 103-168249
Verweist auf Bekanntmachung: 2011/S 44-072599
ABl. S-Ausgabe: 103

Objekt
Umfang der Beschaffung
Referenznummer: 005/220897/CL

Verfahren
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Preis (35)
2. Technische Ausführung, Platzbedarf (50)
3. Bedienung, Service (15)

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2011-05-10 📅
Postanschrift: Carl-Zeiss-Straße 56
Postort: Oberkochen
Postleitzahl: 73447
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI 4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I 1 genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des § 107 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden sollen, werden vor dem Zuschlag gem. §101a GWB informiert.

Quelle: OJS 2011/S 103-168249 (2011-05-26)

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