Overlaymessgerät
Overlaymessgerät zur beidseitigen Vermessung und Inspektion von 8? Si- Wafern.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-06-24.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-05-13.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2011-05-13
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Auftragsbekanntmachung
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