Röntgenphotoelektronenspektrometer
Ein XPS-System, das über folgende Möglichkeiten verfügen sollte:
Hochauflösende monochromatisierte XPS-Analyse, Small-Spot-Analysen, Linienprofile (linescans), Aufnahme chemischer Verteilungsbilder (chemical maps), Tiefenprofilanalyse, Analyse von elektrisch isolierenden und leitfähigen Materialien, Anschlußmöglichkeit für eine Glove-Box.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-01-20.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-11-29.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2011-11-29
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Auftragsbekanntmachung
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| 2012-04-12
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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