Hochauflösendes Mikroskopie-System
Beschreibung des Auftrages.
Unsere Beschaffung umfasst ein hochauflösenden Mikroskopie System in einer integrierten Plattform welches ein Rasterkraftmikroskop und ein konfokales Ramanmikroskop kombiniert. Aufgrund der unterschiedlichsten Anwendungen im Bereich Umweltforschung mit den Schwerpunkten Mikrobiologie, Gewässerforschung und Biogeochemie soll das System mindestens folgende Spezifikationen und Eigenschaften aufweisen:
1. Konfokales Raman Mikroskop mit hoher Konfokalität, nachweisbar als FWHM (full width half maximum) mit einer Auflösung von 400 nm lateral und 900 nm axial (z.B.: 100x NA 0.7 und 532 nm).
2. Entscheidend für die Ramanmikroskopie von biologischen Proben sind zudem sehr kurze Integrationszeiten von < 50 ms.
3. Für die Messung der schwachen Ramansignale sollen 2 Detektoren mit höchster Empfindlichkeit bei niedrigster Anregungsenergie zur Verfügung stehen. Das notwendige Gerät soll mit einem linsenbasierten Spektrometer für den sichtbaren Bereich und einem linsen-basiertem Spektrometer für nahen infraroten Bereich ausgerüstet sein. Für die eigentliche Detektion müssen zwei separate CCD Detektoren mit hoher Quanteneffizienz (>90 %), einer optimiert für VIS und einer optimiert für NIR, vorhanden sein. Die CCD Detektoren müssen kürzeste Integrationszeiten aufweisen um eine extrem schnelle Datenaufnahme zu gewährleisten.
4. Das System muss eine Kombination aus motorisiertem Probentisch (25x25 mm) und Piezo-Scanner (2 nm in XY und 0,2 nm in Z) mit absolutem Koordinatensystem besitzen. Das Positioniersystem muss beide Positionsmessungen koordinieren um somit höchste Präzision in der Probennavigation und Positioniergenauigkeit (X, Y, Z Richtungen) für automatisierte Messungen an kleinsten Objekten´zu erlauben.
5. Ein temperierbarer Probenhalter ist notwendig für empfindliche biologische Proben.
6. Das System muss mit einem Punkt-Fokus und Proben-Scanning arbeiten um höchste Flexibilität in der Wahl der Objektive sowie der beugungsbegrenzten Auflösung zu ermöglichen.
7. Die Kombination aus konfokalem Raman- und Rasterkraft-Mikroskop muss über eine voll integrierte Steuerelektronik und Steuersoftware die einfache Kombination zwischen Rasterkraft (AFM) und Ramananalyse erlauben. Die Umstellung der Messmodi muss ohne Probenwechsel möglich sein.
8. Die AFM-Messmethode soll Möglichkeiten zu einen „digital pulsed force“ Modus, zur gleichzeitigen Aufnahme von Topographie, lokaler Steifigkeit und Adhäsion durch einen nicht-resonanten intermittierenden Kontakt-Modus ermöglichen.
9. Die Software zur Datenaufbereitung muss Möglichkeiten zur Cluster Analyse, Hauptkomponentenanalyse (Principal Component Analysis), Matrix Faktorisierung zur Berechnung der Spektren der Einzelkomponenten und deren Verteilung beinhalten
10. Das Ramanmikroskop muss mit Laser für folgende Wellenlängen ausgestattet sein: 532 nm, 633 nm, 785 nm.
11. Das Ramanmikroskop soll eine Weisslicht Durchlichtbeleuchtung (polarisiert) und eine Dunkelfeld Beleuchtung für die normale Lichtmikroskopie bzw. zum Auffinden der mikroskopisch kleinen Objekte besitzen.
12. Das Mikroskop muss auf einem Tischgestell mit einem aktiv schwingungsgedämpften Modul stehen. Für die AFM-Messungen muss ein Isolationsgehäuse angeboten werden.
13. Als Option soll für zukünftige Anwendungen die Integration eines Profilometers möglich sein. Dies erlaubt Raman-Messungen basierend auf der Topographiekarte was für mikrobielle Biofilme auf Oberflächen sehr wichtig ist.
Eine Mindestauswahl von Objektivsätzen für die AFM und Ramanmikroskopie welche für die speziellen Anwendungen notwendig sind ist nachfolgend angegeben:
— Objektiv 10x, Hellfeld/Dunkelfeld, numerische Apertur (NA) 0.25, keine Deckglaskorrektur, Arbeitsabstand 9.0 mm,
— Objektiv 20x, Hellfeld/Dunkelfeld, numerische Apertur (NA) 0.5, keine Deckglaskorrektur, Arbeitsabstand 2.2mm,
— Objektiv 100x, Hellfeld/Dunkelfeld, numerische Apertur (NA) 0.9, keine Deckglaskorrektur, Arbeitsabstand 0,28 mm,
— Objektiv 100x NA=0,75; AA=4,0 mm mit hoher Transmission von 360nm bis ca.1000 nm und Bildfeldebnung im sichtbaren Spektralbereich,
— Objektiv 63xW UV-VIS-IR, NA 1.2, WD 0,28 mm, deckglaskorrigiert für 0,17mm,
— Objektiv 63x NA=0,75; AA=2,2-1,2mm mit variabler Deckglaskorrektur von 0-1,5mm mit hoher Transmission von 360nm bis ca.1000nm und Bildfeldebnung im sichtbaren Spektralbereich,
— Objektiv 63x Wassertauchobjektive, VIS-IR, NA 1.0, WD 2.1 mm.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-07-26.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-07-16.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2012-07-16
|
Auftragsbekanntmachung
|