Opto-Electrical S-Parameter Measurement set-up for RF Semiconductor Components
Lieferung eines Opto-Elektronischen Wafer-Messsystems, OE S-Parameter von Hochfrequenzbauelementen / Delivery of an Opto-Electrical S-Parameter Measurement Set-up for RF Semiconductor Components.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-01-15.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-11-27.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
Datum |
Dokument |
2012-11-27
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Auftragsbekanntmachung
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