Photoelektronenspektroskopie XPS-Analytik
Gerät zur Photoelektronenspektroskopie mittels Röntgenstrahlung (XPS) mit quantitativen Analyse der chemischen Elementezusammensetzung und Analyse der chemischen Bindungszustände im oberflächlichen Bereich, mit Möglichkeit zur Tiefenprofilierung und Ortsauflösung.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-11-15.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-09-18.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2012-09-18
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Auftragsbekanntmachung
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