Probe Station für hohe Spannungen

Fraunhofer Gesellschaft e.V.

Mit der halbautomatischen Probe Station für 200 mm Wafer sollen elektrischen Kennlinien von GaN Hochspannungsbauelementen bis 3 000 V statisch und dynamisch gemessen werden können. An den Prober soll ein Agilent B1505A Hochspannungs Parameter Analyzer angeschlossen werden.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-04-02. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-02-09.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2012-02-09 Auftragsbekanntmachung
2012-05-10 Bekanntmachung über vergebene Aufträge