Probe Station für hohe Spannungen
Mit der halbautomatischen Probe Station für 200 mm Wafer sollen elektrischen Kennlinien von GaN Hochspannungsbauelementen bis 3 000 V statisch und dynamisch gemessen werden können. An den Prober soll ein Agilent B1505A Hochspannungs Parameter Analyzer angeschlossen werden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-04-02.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-02-09.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum |
Dokument |
2012-02-09
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Auftragsbekanntmachung
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2012-05-10
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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