UHV-Analysesystem für XPS/UPS/AES

Friedrich-Schiller-Universität Jena

Kauf eines UHV-Analysesystems für winkelaufgelöste XPS/UPS/AES zur Charakterisierung von Oberflächen und Nanostrukturen.
— zur Untersuchung von leitenden und nichtleitenden Proben, insbesondere auch organische Schichten mittels Elektronenspektroskopie,
— hochaufgelöste Photoelektronenspektros-kopie durch Anregung mit monochromatisierten UV- und Röntgenquellen und Messung bei tiefen Temperaturen (LHe, T<20K),
— Anschlußmöglichkeiten für weitere bereits vorhandene physikalische Präparations- und Charakterisierungstechniken wie Ionenkanone, SE-Detektor und Elektronenquelle STAIB EK12,
— Kopplungsmöglichkeit des neuen UHV-Analysesystems an die zentrale radiale Transferkammer (VGR2P2) eines vorhandenen UHV-Mehrkammersystems, dessen Analyse- und Präparationstechnik weiterhin genutzt werden soll.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-09-27. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-08-08.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2012-08-08 Auftragsbekanntmachung
2012-11-13 Bekanntmachung über vergebene Aufträge