Beschaffung eines Raman-/Rastersondenmikroskops (DFG-GZ: A 673)

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Allgemein:
AFM/TERS Einheit speziell zum Einsatz für die Nano-Spektroskopie, d.h. die Auflösung von TERS-Kartierungen darf nur durch physikalische Parameter und nicht durch konstruktive Gegebenheiten der AFM-Raman-Kopplung limitiert sein.
Anforderungen an AFM:
Eignung für verschiedene Betriebsarten (mindestens: contact, point-to-point contact (intermittent contact), non-contact, jeweils mit/ ohne STM-Mode-Leitfähigkeitsmessung (100fA bis 10µA oder besser), sowie weitere übliche AFM-Modi.
Proben-Scanner, Scan-Bereich 100µm x 100µm x 15µm, mit abschaltbarer elektronischer Linearisierung; Nichtlinearität besser 0,05 %, Rauschen der aktiven Positionierung < 0.05 nm; mechanische Resonanzfrequenz > 10 kHz um die Auswirkung externer Schwingungen auf das System so gering wie möglich zu halten.
Kopf mit Spitzenhalter muss fest mit Basismodul, das Scanner enthält, verbunden sein; atomare Auflösung muss auch auf einfach passiv gedämpften Tisch in Kombination mit Raman-Mikroskop demonstriert werden können;
Laserdiode für Messung der Cantileverauslenkung muss im Infrarotbereich liegen mit Wellenlänge > 1000 nm; Genauigkeit der z-Regelung ≤ 0,1 nm; der AFM-Laserstrahl darf nicht durch das Objektiv des Raman-Lasers geführt werden.
Einfacher Cantilever-Wechsel bei Erhalt der aktuellen Proben-Positionierung
Vollautomatische Ausrichtung des Cantilevers ohne manuelles Eingreifen in das AFM.
Anforderung an Raman-Spektrometer:
— Spektrale Auflösung: besser als 1 cm-1/ pixel (785 nm), hohe Luminosität: min. 60% bei 650 nm,
— fest im Gerät integrierte interne Laser, am besten drei unterschiedliche Wellenlängen (ca 530, ca. 630, ca 780 nm),
— mehrere Gitter, automatisiert wechselbar, hohe und geringe Auflösung für alle Laser wählbar,
— Laserspot und Probe müssen gleichzeitig beobachtbar sein,
— schnelles Raman-Mapping, bis zu 20ms pro Punkt,
— Detektor mit großem 1024 Pixel CCD-Chip,
— gesamtes System ist auf Strahldurchmesser von 100x Objektiv optimiert,
— voll konfokales Pinhole für laterale Auflösung kleiner 0,5µm und größtmöglicher axialer Auflösung,
— Polarisationsmodule für Laser- und Raman-Strahlung.
Anforderung an Raman-Anregung, Kopplung zwischen AFM und Spektrometer:
Anregung und Auskopplung des Raman-Signals geschieht über Mikroskop-Objektive mit hoher numerischer Apertur ( 0,7 bzw. 0,55 und 0,28). Das AFM muss eine Anregung von oben und von der Seite zulassen. Der Aufbau muss einen Wechsel zwischen den Anregungen ermöglichen.
Die nominale Auflösung der Bewegung muss in allen drei Raumrichtungen besser als 1 nm sein. Die Positionierung geschieht am besten über Piezos mit kapazitiver Rückkopplung zur Stabilisierung der Position.
Für die simultane Betrachtung der Probe von oben und der Spitze von der Seite gibt es jeweils eine eigenständige Beleuchtungsquelle. Es muss eine PC-gesteuerte Intensitäts-Regelung aller Lichtquellen geben um eine Feineinstellung ohne manuelle Eingriffe zu ermöglichen.
Echt simultane AFM- und Raman(TERS)-Messung muss möglich sein, d.h. Software muss gleichzeitigen Bildaufbau gewährleisten.
HotSpot-Mapping muss möglich sein, d.h. bildgebendes Rastern des Raman-Lasers auf der AFM-Spitze.
TERS-mapping muss zur Abnahme in gewöhnlicher Laborumgebung an einer geeigneten Probe demonstriert werden.

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-01-03. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-11-27.

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • Horiba Jobin Yvon GmbH

• • Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

• • Dunkelfeld- und Rastersondenmikroskope › Rastersondenmikroskope
• • Astronomische und optische Instrumente › Optische Mikroskope

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