Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops (DFG-GZ: A 658)

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Die vorgesehenen Anwendungsgebiete für das beantragte Gerät sind die topografische Analyse (AFM-Imaging) biologischer Präparate sowie Kraftspektroskopie mit höchster AFM-Auflösung. Die Untersuchung biologischer Präparate erfordert einen großen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal. Des weiteren ist die Kombination mit modernen (fluoreszenz)mikroskopischen Verfahren erforderlich, wofür auch eine Kamera benötigt wird. Biologische bzw. biophysikalische Versuche erfordern die Temperierung der Proben unter und oberhalb der umgebenen Raumtemperatur (15-50 °C). Da das beantragte Gerät von mehreren Arbeitsgruppen und Personen genutzt werden soll, ist eine offene Verfügbarkeit von Softwarelizenzen wünschenswert. Dies ermöglicht die Analyse von Rohdaten an systemunabhängigen Rechnern.
Neben den oben genannten Merkmalen, die für die vorgesehenen Anwendungsgebiete des Rasterkraftmikroskops notwendig sind, muss das Gerät folgende spezifische Voraussetzungen erfüllen:
— hochauflösendes Cantilever-Scanning-System mit einem Rasterbereich von 100 x 100 x 15 µm (x, y, z), mit Erweiterung des z-Bereichs um 100 µm. Insbesondere für die Charakterisierung von Zell-Zell-Wechselwirkungen mittels Kraftspektroskopie ist ein Scanbereich (z-Richtung) von 100 µm essentiell,
— Der Cantilever muss motorisiert, softwaregesteuert und automatisch an die Probenoberfläche herangeführt bzw. angenähert werden können,
— Korrektur von Objektiv-Abbildefehlern per Software. Dies setzt eine softwaregesteuerte Bewegung des Cantilevers relativ zur Probenoberfläche voraus, wobei mehrere Positionen zur Bildkalibrierung angefahren werden sollen (min. 20 Positionen). Die Bildkorrektur soll auch Verzerrungen 2. Ordnung korrigieren,
— Motorisierte Tilt-Korrektur des AFM-Kopfes bzw. der Probenoberfläche,
— Ausreichender Verfahrweg der Probe in x- und y-Richtung (min. 20 mm x 20 mm) bei gleichzeitiger Entkopplung vom X/Y Cantilever-Scanner. Gleichfalls muss der AFM-Probenkopf manuell ausreichend verschiebbar sein (min. 10 mm x 10 mm),
— Die Möglichkeit zur Durchführung von hochauflösenden Messungen von Materialeigenschaften in Flüssigkeiten basierend auf Kraft-Abstandskurven. Dies schließt insbesondere ein, dass keine Lateralkräfte auf die Probe wirken, jedes Pixel einer AFM-Abbildung eine vollständige, individuelle Kraft-Abstandskurve beinhaltet, diese als Rohdaten abgespeichert und auch zu einem späteren Zeitpunkt detailliert analysiert werden können,
— Annäherungs- und Ziehgeschwindigkeit des Cantilevers müssen bei Aufnahme jeder Kraft-Abstandskurve konstant sein,
— Die Möglichkeit zur parallelen topographischen Charakterisierung (‚imaging') und Erkennung spezifischer Oberflächenstrukturen (Adhäsions – und Indentations bezogenen Daten),
— Bereitstellung ungefilterter Rohdaten zur späteren Verarbeitung,
— Inverse Mikroskopie und parallele Nutzung der Tip-Scanning-Technik zwecks störungsfreier und optisch scharf wiedergegebener Abbildungen,
— Phasenkontrast und DIC Optik für mindestens 20x und 40x Objektive,
— Integrationsmöglichkeit von TIRF; setzt ein Tip-Scanning-System voraus, da die Probe bei diesen Experimenten ruhen muss,
— Spezieller Abbildungsmodus für höchste Auflösung auf Einzelmolekülen in Flüssigkeiten (DNA-Nanostrukturen als Benchmark), mit herkömmlichen, kommerziell erhältlichen Cantilevern,
— Coverslip-/Deckglas-basierter temperierbarer Probenhalter (15-50 °C) mit hoher Stabilität für hochauflösende Messungen in Verbindung mit Inversmikroskopie für gleichzeitige hochauflösende lichtmikroskopische Untersuchungen,
— effiziente Vibrationsunterdrückung.

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-10-18. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-09-16.

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • JPK Instruments AG

• • Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

• • Mikroskope › Dunkelfeld- und Rastersondenmikroskope

• • Berlin › Berlin