Lieferung eines Röntgendiffraktometers (XRD) mit schnellem Detektor und Probentemperierung

Technische Universität, Der Präsident, Abt. IV – Gebäude- und Dienstemanagement

Der Auftrag umfasst die Lieferung eines Röntgendiffraktometers (XRD) einschließlich der Aufstellung und Installation.
Folgende Anforderungen werden an den Röntgendiffraktometer (XRD) gestellt:
— Messung von Pulverproben in Reflexion,
— Möglichkeit zur Aufnahme von Röntgendiffraktogrammen von sehr kleinen Probenmengen (Si-Einkristallträgern),
— Messung größerer Probenserien von Versuchsreihen,
— Bedienerfreundliche Software für die qualitative und quantitative Auswertung der Röntgendiffraktogramme,
— Datenbanken für a) qualitative Analysen und b) Strukturdaten für quantitative Analysen (Rietvel-Quantifizierung),
— sehr schnelles Detektorsystem (ausreichend schnelle Abfolge der Diffraktogramme während Zementhydratation),
— Klimatisierung der Probenkammer im Temperaturbereich 5-40 °C,
— spezielle Probenhalterungen für pastöse Proben unter Luftabschluss,
— geeignete Parallelstrahloptik für die Mikrodiffraktion,
— Fokussierung und Steuerung des zu messenden Probenbereichs in x-, y- und z-Richtung.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-01-16. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-11-22.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • PANalytical GmbH

Wer?

• • Technische Universität, Der Präsident, Abt. IV – Gebäude- und Dienstemanagement

Wie?

• • Erkennungs- und Analysegeräte › Analysegeräte

Wo?

• • Berlin › Berlin