Mapping-Imaging-Nanoindentor
Mapping-Imaging-Nanoindentor gemäß anzufordernder Vergabeunterlagen unter der Angabe der Bearbeitungsnummer 61/13.
Mit dem zu beschaffenden Mapping-Imaging-Nanoindentor sollen folgernde Untersuchungen durchgeführt werden:
— Instrumentierte Eindringprüfung im Nano-Bereich entsprechend ISO 14577.
— Dynamische Instrumentierte Eindringprüfung mit der Möglichkeit der Bestimmung von Speicher- und Verlustmodul.
— Scratchtest mit Messung der Lateralkraft.
— Bestimmung des mechanischen Verhaltens (plastisch-elastisch, visko-elastisch) vor allem von Nano-Objekten (Nanopartikel < 50 nm, Schichten < 50 nm) und Nanokompositen durch Instrumentierte Eindringprüfung.
— 3D Abbildung (Imaging) der Probenoberfläche mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich.
— Mapping von mechanischen Eigenschaften der Probe mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich.
— Optional sollen die genannten Untersuchungen auch bei hohen Temperaturen (Maximale Temperatur der Messung mindestens 400 °C) möglich sein.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-01-20.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-12-03.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2013-12-03
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Auftragsbekanntmachung
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| 2014-04-02
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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