On-Wafer-Messplatz
Ausgeschrieben wird ein On-Wafer-Messplatz für Breitband- und Höchstfrequenzschaltungen.
Der Zweck des Messplatzes ist die Messung von integrierten Breitband- und Hochfrequenz-Schaltungen bis über 100 GHz bzw. über 100 Gbit/s.
Zentrales Gerät des Messplatzes ist eine Wafer-Probe-Station zur Kontaktierung von Einzelchips bzw. Wafern. Zur Charakterisierung von Chips sollen an die Wafer Probe-Station folgende Messgeräte angeschlossen werden:
— Vektor-Netzwerk-Analysator (VNA), 4-Port bis 67 GHz, 2-Port kontinuierlich von einigen MHz bis 110 GHz,
— Bit-Pattern-Generator mit 4*32 Gbit/s (128 Gbit/s),
— Sampling-Oszilloskop mit mind. 70 GHz Bandbreite,
— Signalgenerator (Sinusgenerator) 40 GHz.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-12-17.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-11-04.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2013-11-04
|
Auftragsbekanntmachung
|