optisches Topographiemessgerät
Optisches Topographiemessgerät zur Analyse elektrostatisch angesteuerter "in-plane" und "out-of-plane" Nanoaktoren (kurz: Nano-Analyzer).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-06-10.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-04-19.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
Datum |
Dokument |
2013-04-19
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Auftragsbekanntmachung
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