Röntgendiffraktometer für Dünnschichtanalytik und Epitaxie
Gefordert ist ein modulares hochauflösendes Röntgendiffraktometer entsprechend dem neuesten Stand der Technik, welches ohne jegliche Einschränkungen die folgenden Messmodi abdecken muss:
(a) Hochauflösende Röngtendiffraktometrie mit Parallelstrahloptik und Primär- und Sekundärdivergenz um 12 arcsec, für höchstaufgelöste Reciprocal Space Maps und die entsprechenden Einzelscans, für symmetrische, asymmetrische und schräg-symmetrische Reflexe.
(b) HR-XRD -Rockingkurven mit offenem Detektor,
(c) Pulverdiffraktometrie mit divergenter/fokussierender Bragg-Brentano-Optik mit variablen Spaltbreiten.
(d) Röntgenreflektometrie mit Simulationssoftware.
Der Umbau zwischen den genannten Messmodi muss mit geringem Aufwand und höchstmöglicher Justagegenauigkeit der Optik-Komponenten realisierbar sein. Das Gerät muss einen schnellen Flächendetektor, ein 4-Kreis oder 5-Kreis Goniometer (Euler-Wiege), einen X-Y-Probentisch für 2 oder 3-Zoll-Proben (Probendicke variabel) mit automatisierter Abarbeitung eines frei wählbaren Messpunktrasters aufweisen. Das Gerät muss mit geeigneter Software ausgestattet sein, die die Auslesung der Fächendetektordaten, die Phasen- und Texturanalyse, ggf. Rietveldverfeinerungen, Analysen der Reciprocal Space Maps und der XRR-Daten ermöglicht. Die Einbindung der PDF- bzw. COD-Datenbanken muss möglich sein. Sehr begrüßt werden würde, wenn eine aktuelle Datenbank beigefügt werden könnte, die im Umfang über die JCPDS (PDF) v.2.0 von 1998 deutlich hinausgeht.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-03-20.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-02-01.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2013-02-01
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Auftragsbekanntmachung
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| 2014-09-03
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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