Lieferung eines Magnetkryostaten

Forschungsverbund Berlin e. V.

Magnetkryostat für konfokale optische Mikroskopie und Rasterkraftmikroskopie:
Komponenten:
— Kryostat für Messungen bei 4,2 K, lieferbar sowohl als Helium-Bad- als auch kryogenfreie Version.
— Supraleitender Vektormagnet: 2 Tesla (horizontal) und 8 Tesla (vertikal).
— Elektronik mit geschlossenem Regelkreis für alle Grobpositionierer.
— Probenhalter mit integriertem Heizelement und kalibriertem Temperatursensor.
— Optischer Kopf für spektroskopische Messungen.
— 2 Kryostateinsätze mit unterschiedlichen Messköpfen:
(1) Ein Einsatz für konfokale optische Mikroskopie (CFM).
(2) Ein Einsatz für kombinierte CFM und Rasterkraftmikroskopie (AFM).
Spezifikationen.
Konfokale Mikroskopie (beide Einsätze):
— Spektraler Bereich: 300-1 550 nm mit einer Transmission von ≥ 80 %.
— Räumliche Auflösung: ≤ 600 nm.
— Bildfeldgrösse: ≥ 50 µm.
Optischer Kopf (beide Einsätze):
— Anregungs- und Detektionskanal für schnelle und zuverlässige Justage.
— Umlenkspiegel für kombinierte Strahlengänge (Anregungs- und Detektionskanal).
— Schneller Austausch optischer Komponenten (z. B. Filter und Strahlteiler).
Messkopf für Kombinierten CFM/AFM-Einsatz:
— Verstellbereich für grobe Positionierung (xyz): ≥ 2 x 3 x 2.5 mm.
— Verstellbereich für Rastermessungen (xyz): ≥ 30 x 30 x 4 µm (300 K) & ≥ 12 x 12 x 2 µm (4 K).
— Nichtlinearität des Rasterpiezoelements: ≤ 10 % des Verstellbereichs.
— Z-Bit-Auflösung: ≤ 8 pm (voller Verstellbereich @ 4K) & 0.2 pm (kleiner Verstellbereich @ 4 K).
— Messmethoden:
— — Konfokale optische Mikroskopie (CFM).
— — Rasterkraftmikroskopie (AFM).
— — Kombinierte CFM und AFM.
— Schnellaustausch-Probenhalter:
— — Elektrische Niederfrequenz-Zuleitungen:
Mindestens 8 Kabel für das Anlegen von Spannungen und die Detektion von Niederfrequenz-Signalen.
Messkopf für CFM-Einsatz:
— — Verstellbereich für grobe Positionierung (xyz): ≥ 5 x 5 x 5 mm.
— — Verstellbereich für Rastermessungen (xy): ≥ 50 x 50 µm (300 K) und 30 x 30 µm (4 K).
— — Nichtlinearität des Rasterpiezoelements: ≤ 10% des Verstellbereichs.
— — Schnellaustausch-Probenhalter:
— Elektrische Hochfrequenz (RF)-Zuleitungen:
Mindestens 4 halbflexible Kabel mit kleiner RF-Dämpfung und externen SMA-Anschlüssen für die Anregung von Interdigitalwandlern mit Frequenzen bis zu 18 GHz.
— Elektrische Niederfrequenz-Zuleitungen:
Mindestens 16 Kabel für das Anlegen von Spannungen und die Detektion von Niederfrequenz-Signalen.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-05-05. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-03-21.

Wer?

• • Forschungsverbund Berlin e. V.

Wie?

• • Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

Wo?

• • Berlin › Berlin