Beschaffung eines Kombinationsgerätes Rastersondenmikroskop/Optisches Mikroskop inklusive Raman-Spektrometer und Lichtquellen (DFG-GZ: A 699)

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Kombinationsgerät Rastersondenmikroskop/Optisches Mikroskop inklusive Raman-Spektrometer und Lichtquellen
allgemeine Anforderungen:
hardware und software integrierte Kombination aus Rastersondenmikroskop, optischem Mikroskop, sowie Ramanspektrometer inkl. konfigurierbarer elektronischer Datenerfassung und Experimentsteuerung.
Rastersondenmikroskop:
— Möglichkeit zur Verwendung verschiedener Sonden, insbes. quarz tuning fork, AFM cantilever, STM tips
— Für cantilever Sonden: Infraroter feedback laser, Wellenlänge >1000nm (Störungsfreie optische Messungen im Bereich 350 – 1000nm), automatisierte Justage
— Messmodi: Kontakt, Semi-Kontakt (Tapping), Non-Kontakt, Lateral force, Phasenkontrast, magnetic force, Kelvin probe, Leitfähigkeit, Nanomanipulation, Flüssigkeitszelle
— Video-Mikroskop zur Beobachtung des Probe/Sonde Wechselwirkungsgebiets
— motorisierte laterale Positionierung der Sonde relative zur Probe (>1mm x 1mm, Auflösung <2m)
— linearisierter dreiachsiger Proben-Piezoscanner mit min 100mx100m lateralem Scanbereich, sowie > 15m Höhenverstellbereich, Linearität <0,1 %
— räumliches Auflösungsvermögen bis in den molekularen Bereich ohne piezo scanner Austausch, an geeigneter Probe nachzuweisen
— relative drift Probe-Spitze < 0.1nm/s
— Rauschen Topographiesignal <0.1nm
Optisches Mikroskop:
— Kombiniertes inverses und aufrechtes Mikroskop
— Detektion/Beleuchtung (Probenanregung) von unten und oben, sowie seitliche Beleuchtung, Probenanregung und Detektion).
— Vorrichtung zur software-gesteuerten Feinjustage des Fokuspunktes des externen Lasers zur Probenanregung und der Spitze der Rastersonde. Die Vorrichtung muss den Abgleich Spitze – Laserfokus für alle drei vorausgesetzten Anregungsgeometrien (oben, unten und seitlich) unterstützen, Bereich >30m x 30 m x 10m, Präzision <10nm, Drift <0.1nm/s
— Vorrichtung zum Halten der relative Position von Rastersonde und optischem Fokus während des Scannens (Ausgleich von Bewegungen des Probenscanners)
— cw Laserlichtquelle, >100mW @532nm inkl. Strahlkonditionierung, Leistungsanpassung, Anregungsfilter, Ankopplung Mikroskop mittels Spiegeloptiken zur Erhaltung und einfachen Steuerung der Laserpolarisation relativ zur Spitze.
Spektrometer:
— Modularer Aufbau mit mindestens drei software-gesteuert wechselbaren optischen Gitter zur Anpassung der spektralen Auflösung an die Messaufgabe (Raman- und Fluoreszenzdetektion). Der Spektrograph muss mindestens zwei optische Ausgänge zum Aufbau unterschiedlicher, paralleler Detektionszweige besitzen.
— Effiziente Faserkopplung zwischen Mikroskop und Spektrographen zur Detektion von Raman-Spektren (schmaler Frequenzbereich) & Fluoreszenzspektren (breiter Wellenlängenbereich)
— hochempfindlicher gekühlter EMCCD Detektor
— Lieferung frei Verwendungsstelle einschließlich Installation und Einweisung.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-04-17. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-03-18.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt: