Beschaffung eines Kombinationsgerätes Rastersondenmikroskop/Optisches Mikroskop inklusive Raman-Spektrometer und Lichtquellen (DFG-GZ: A 699)

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Kombinationsgerät Rastersondenmikroskop/Optisches Mikroskop inklusive Raman-Spektrometer und Lichtquellen
allgemeine Anforderungen:
hardware und software integrierte Kombination aus Rastersondenmikroskop, optischem Mikroskop, sowie Ramanspektrometer inkl. konfigurierbarer elektronischer Datenerfassung und Experimentsteuerung.
Rastersondenmikroskop:
— Möglichkeit zur Verwendung verschiedener Sonden, insbes. quarz tuning fork, AFM cantilever, STM tips
— Für cantilever Sonden: Infraroter feedback laser, Wellenlänge >1000nm (Störungsfreie optische Messungen im Bereich 350 – 1000nm), automatisierte Justage
— Messmodi: Kontakt, Semi-Kontakt (Tapping), Non-Kontakt, Lateral force, Phasenkontrast, magnetic force, Kelvin probe, Leitfähigkeit, Nanomanipulation, Flüssigkeitszelle
— Video-Mikroskop zur Beobachtung des Probe/Sonde Wechselwirkungsgebiets
— motorisierte laterale Positionierung der Sonde relative zur Probe (>1mm x 1mm, Auflösung <2m)
— linearisierter dreiachsiger Proben-Piezoscanner mit min 100mx100m lateralem Scanbereich, sowie > 15m Höhenverstellbereich, Linearität <0,1 %
— räumliches Auflösungsvermögen bis in den molekularen Bereich ohne piezo scanner Austausch, an geeigneter Probe nachzuweisen
— relative drift Probe-Spitze < 0.1nm/s
— Rauschen Topographiesignal <0.1nm
Optisches Mikroskop:
— Kombiniertes inverses und aufrechtes Mikroskop
— Detektion/Beleuchtung (Probenanregung) von unten und oben, sowie seitliche Beleuchtung, Probenanregung und Detektion).
— Vorrichtung zur software-gesteuerten Feinjustage des Fokuspunktes des externen Lasers zur Probenanregung und der Spitze der Rastersonde. Die Vorrichtung muss den Abgleich Spitze – Laserfokus für alle drei vorausgesetzten Anregungsgeometrien (oben, unten und seitlich) unterstützen, Bereich >30m x 30 m x 10m, Präzision <10nm, Drift <0.1nm/s
— Vorrichtung zum Halten der relative Position von Rastersonde und optischem Fokus während des Scannens (Ausgleich von Bewegungen des Probenscanners)
— cw Laserlichtquelle, >100mW @532nm inkl. Strahlkonditionierung, Leistungsanpassung, Anregungsfilter, Ankopplung Mikroskop mittels Spiegeloptiken zur Erhaltung und einfachen Steuerung der Laserpolarisation relativ zur Spitze.
Spektrometer:
— Modularer Aufbau mit mindestens drei software-gesteuert wechselbaren optischen Gitter zur Anpassung der spektralen Auflösung an die Messaufgabe (Raman- und Fluoreszenzdetektion). Der Spektrograph muss mindestens zwei optische Ausgänge zum Aufbau unterschiedlicher, paralleler Detektionszweige besitzen.
— Effiziente Faserkopplung zwischen Mikroskop und Spektrographen zur Detektion von Raman-Spektren (schmaler Frequenzbereich) & Fluoreszenzspektren (breiter Wellenlängenbereich)
— hochempfindlicher gekühlter EMCCD Detektor
— Lieferung frei Verwendungsstelle einschließlich Installation und Einweisung.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-04-17. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-03-18.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

Wer? Wie? Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2015-03-18 Auftragsbekanntmachung
2015-03-23 Ergänzende Angaben
2015-07-30 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Auftragsbekanntmachung (2015-03-18)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Dunkelfeld- und Rastersondenmikroskope
Menge oder Umfang: 1 System.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Dunkelfeld- und Rastersondenmikroskope 📦

Verfahren
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle
Postanschrift: Kennedyallee 40
Postleitzahl: 53175
Postort: Bonn
Kontakt
Internetadresse: http://www.dfg.de 🌏
E-Mail: ute.breuer@dfg.de 📧
Telefon: +49 2288852474 📞
Fax: +49 2288853676 📠

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-03-18 📅
Einreichungsfrist: 2015-04-17 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-03-21 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 057-099087
ABl. S-Ausgabe: 57
Zusätzliche Informationen
Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. IV.3.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben. Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.3.4) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff. IV.3.4) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.
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Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Kombinationsgerät Rastersondenmikroskop/Optisches Mikroskop inklusive Raman-Spektrometer und Lichtquellen
allgemeine Anforderungen:
hardware und software integrierte Kombination aus Rastersondenmikroskop, optischem Mikroskop, sowie Ramanspektrometer inkl. konfigurierbarer elektronischer Datenerfassung und Experimentsteuerung.
Rastersondenmikroskop:
— Möglichkeit zur Verwendung verschiedener Sonden, insbes. quarz tuning fork, AFM cantilever, STM tips
— Für cantilever Sonden: Infraroter feedback laser, Wellenlänge >1000nm (Störungsfreie optische Messungen im Bereich 350 – 1000nm), automatisierte Justage
— Messmodi: Kontakt, Semi-Kontakt (Tapping), Non-Kontakt, Lateral force, Phasenkontrast, magnetic force, Kelvin probe, Leitfähigkeit, Nanomanipulation, Flüssigkeitszelle
— Video-Mikroskop zur Beobachtung des Probe/Sonde Wechselwirkungsgebiets
— motorisierte laterale Positionierung der Sonde relative zur Probe (>1mm x 1mm, Auflösung <2m)
— linearisierter dreiachsiger Proben-Piezoscanner mit min 100mx100m lateralem Scanbereich, sowie > 15m Höhenverstellbereich, Linearität <0,1 %
— räumliches Auflösungsvermögen bis in den molekularen Bereich ohne piezo scanner Austausch, an geeigneter Probe nachzuweisen
— relative drift Probe-Spitze < 0.1nm/s
— Rauschen Topographiesignal <0.1nm
Optisches Mikroskop:
— Kombiniertes inverses und aufrechtes Mikroskop
— Detektion/Beleuchtung (Probenanregung) von unten und oben, sowie seitliche Beleuchtung, Probenanregung und Detektion).
— Vorrichtung zur software-gesteuerten Feinjustage des Fokuspunktes des externen Lasers zur Probenanregung und der Spitze der Rastersonde. Die Vorrichtung muss den Abgleich Spitze – Laserfokus für alle drei vorausgesetzten Anregungsgeometrien (oben, unten und seitlich) unterstützen, Bereich >30m x 30 m x 10m, Präzision <10nm, Drift <0.1nm/s
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— Vorrichtung zum Halten der relative Position von Rastersonde und optischem Fokus während des Scannens (Ausgleich von Bewegungen des Probenscanners)
— cw Laserlichtquelle, >100mW @532nm inkl. Strahlkonditionierung, Leistungsanpassung, Anregungsfilter, Ankopplung Mikroskop mittels Spiegeloptiken zur Erhaltung und einfachen Steuerung der Laserpolarisation relativ zur Spitze.
Spektrometer:
— Modularer Aufbau mit mindestens drei software-gesteuert wechselbaren optischen Gitter zur Anpassung der spektralen Auflösung an die Messaufgabe (Raman- und Fluoreszenzdetektion). Der Spektrograph muss mindestens zwei optische Ausgänge zum Aufbau unterschiedlicher, paralleler Detektionszweige besitzen.
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— Effiziente Faserkopplung zwischen Mikroskop und Spektrographen zur Detektion von Raman-Spektren (schmaler Frequenzbereich) & Fluoreszenzspektren (breiter Wellenlängenbereich)
— hochempfindlicher gekühlter EMCCD Detektor
— Lieferung frei Verwendungsstelle einschließlich Installation und Einweisung.
Es werden Varianten akzeptiert
Referenznummer: HE 5618/6-1 (A 699)
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Würzburg.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Auftragsausführung
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln:
Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.

Verfahren
Datum der Absendung der Aufforderungen: 2015-04-24 📅
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Technischer Wert (50)
2. Preis (50)
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Other
Kontakt
Kontaktperson: Frau Ute Breuer
Internetadresse: www.dfg.de 🌏

Referenz
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: HE 5618/6-1 (A 699)
Zusätzliche Informationen
Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. IV.3.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben.
Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.3.4) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff. IV.3.4) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Das GWB (Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen) verpflichtet uns, Sie zu gegebener Zeit über die beabsichtigte Auftragsvergabe zu informieren. Hiergegen haben Sie die Möglichkeit, innerhalb einer festgelegten Frist vor der Vergabekammer bei der Bezirksregierung Köln, 50606, zu klagen. Im Falle einer fristgerechten Klage erbitten wir eine entsprechende Information.
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Quelle: OJS 2015/S 057-099087 (2015-03-18)
Ergänzende Angaben (2015-03-23)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-03-23 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-03-27 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 061-105992
Verweist auf Bekanntmachung: 2015/S 57-099087
ABl. S-Ausgabe: 61
Quelle: OJS 2015/S 061-105992 (2015-03-23)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2015-07-30)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-07-30 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-08-04 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 148-273269
ABl. S-Ausgabe: 148

Objekt
Umfang der Beschaffung
Referenznummer: HE 5618/6-1-3013338

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2015-07-17 📅
Name: Horiba Jobin Yvon GmbH
Postanschrift: Neuhofstraße 9
Postort: Bensheim
Postleitzahl: 64625
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: info-sci.de@horiba.com 📧
Internetadresse: www.horiba.com/de/scientific 🌏
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 3
Quelle: OJS 2015/S 148-273269 (2015-07-30)