Rasterschwerlastelektronenmikroskop
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop (SEM) kombiniert mit einem gerasterten, fokussierten Ionenstrahl (FIB) für die Präparation und mit Röntgenspektrometern für die Elementanalyse. Es sollen schwere, große, teils magnetische Proben auf der Nanometerskala mit einen FIB präpariert, mit einem SEM (gerasterten, fokussierter Elektronenstrahl) abgebildet, mit EDX und nachrüstbar (optional) mit WDX (energie- und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie) analysiert werden. Die erreichbare Auflösung der Abbildungen muss besser als 1.5 nm sein.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-04-29.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-03-20.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2015-03-20
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Auftragsbekanntmachung
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| 2015-07-01
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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