Rasterschwerlastelektronenmikroskop

Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V., Max-Planck-Institut für Plasmaphysik

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop (SEM) kombiniert mit einem gerasterten, fokussierten Ionenstrahl (FIB) für die Präparation und mit Röntgenspektrometern für die Elementanalyse. Es sollen schwere, große, teils magnetische Proben auf der Nanometerskala mit einen FIB präpariert, mit einem SEM (gerasterten, fokussierter Elektronenstrahl) abgebildet, mit EDX und nachrüstbar (optional) mit WDX (energie- und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie) analysiert werden. Die erreichbare Auflösung der Abbildungen muss besser als 1.5 nm sein.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-04-29. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-03-20.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

Wer? Wie? Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2015-03-20 Auftragsbekanntmachung
2015-07-01 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Auftragsbekanntmachung (2015-03-20)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) 📦

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Niedrigster Preis

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V., Max-Planck-Institut für Plasmaphysik
Postanschrift: Boltzmannstraße 2, z. Hd. Herrn Heinz Setzer, 85748 Garching bei München, Tel +49 8933211422, Fax +49 8932991190, E-Mail heinz.setzer@ipp.mpg.de
Postleitzahl: 85748
Postort: Garching bei München
Kontakt
Internetadresse: http://www.ipp.mpg.de 🌏
E-Mail: heinz.setzer@ipp.mpg.de 📧
Telefon: +49 8932991422 📞
Fax: +49 8932991190 📠

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-03-20 📅
Einreichungsfrist: 2015-04-29 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-03-25 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 059-103254
ABl. S-Ausgabe: 59

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop (SEM) kombiniert mit einem gerasterten, fokussierten Ionenstrahl (FIB) für die Präparation und mit Röntgenspektrometern für die Elementanalyse. Es sollen schwere, große, teils magnetische Proben auf der Nanometerskala mit einen FIB präpariert, mit einem SEM (gerasterten, fokussierter Elektronenstrahl) abgebildet, mit EDX und nachrüstbar (optional) mit WDX (energie- und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie) analysiert werden. Die erreichbare Auflösung der Abbildungen muss besser als 1.5 nm sein.
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Beschreibung der Optionen: Diverse Optionen - siehe Vergabeunterlagen.
Vorläufiger Zeitplan für die Nutzung von Optionen: 12 Monate
Referenznummer: O-500-15-1
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Siehe oben.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung: Siehe Vergabeunterlagen.
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit: Siehe Vergabeunterlagen.
Technische und berufliche Fähigkeiten: Siehe Vergabeunterlagen.
Auftragsausführung
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln: Siehe Vergabeunterlagen.

Verfahren
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2015-06-03 📅
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Other
Kontakt
Kontaktperson: Heinz Setzer

Referenz
Daten
Datum des Beginns: 2015-12-17 📅
Datum des Endes: 2016-03-31 📅
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: O-500-15-1

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Kartellamt
Postanschrift: Kaiser-Friedrich-Straße 16
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53113
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Ein Nachprüfantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 107, Abs. 3 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfantrag ist zudem unzulässig, soweit Vergabeverstöße nicht unmittelbar nach Kenntnis bzw. – bis zum Ablauf der Bewerbungs- bzw. Angebotsfrist gerügt wurde (§ 107 Abs. 3 Nr. 1-3 GWB).
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Quelle: OJS 2015/S 059-103254 (2015-03-20)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2015-07-01)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 1 071 750 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Name des öffentlichen Auftraggebers: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V. Max-Planck-Institut für Plasmaphysik
Postanschrift: Boltzmannstraße 2

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-07-01 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-07-04 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 127-232466
Verweist auf Bekanntmachung: 2015/S 59-103254
ABl. S-Ausgabe: 127

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2015-05-27 📅
Name: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Postanschrift: Carl-Zeiss-Straße 22
Postort: Oberkochen
Postleitzahl: 73447
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: info@zeiss.com 📧
Internetadresse: www.zeiss.com 🌏
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 001

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Postanschrift: Kaiser-Friedrich-Str. 16
Name: Siehe oben
Quelle: OJS 2015/S 127-232466 (2015-07-01)