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  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
  • 2016

Multi-Sonden-Topographie-Messplatz

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Multi-Sonden-Topographie-Messplatz bestehend aus Weißlichtinterferenzmikroskop gemäß Leistungsbeschreibung.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-01-16. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-12-12.

Wer?
  • • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Wie?
  • • Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen › Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen

Wo?
  • • Deutschland

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2016-12-12 Auftragsbekanntmachung
2017-01-19 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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