Testsystem für Integrierte Schaltungen
Beschreibung:
Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-10-07.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-09-01.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2016-09-01
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-01-19
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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