Beschreibung: Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-10-07.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-09-01.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Auftragsbekanntmachung (2016-09-01) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Softwarepaket und Informationssysteme
Referenznummer: IHP-2016-063_1
Kurze Beschreibung:
Beschreibung:
Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.
Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.
Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg
http://vergabemarktplatz.brandenburg.de
Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen dort herunterladen.
Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden.
Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben.
Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und? sofern im konkreten Verfahren einschlägig? für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist.
Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden.
Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYEV.
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Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden.
Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYEV.
Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Beschreibung:
Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.
Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.
Anforderungen an das Testsystem:
? Mindestens 8 Spannungsversorgungskanäle (Device Power Supply (DPS) Channels)
o Min. Spannungsbereich: +/- 5V
o Min. 2 Kanäle bis 5A Ströme
o Gang-Möglichkeit (Koppeln von Kanälen um höhere Versorgungsströme zu erreichen)
o Programmable Clamp (Programmierbarer Überspannungsschutz)
o Möglichkeiten zur Strommessung
o Möglichkeit für Power Up/Down Sequenzen
? Mindestens 256 Digitalkanäle mit Tester-Pro-Kanal Architektur
o Min. Spannungsbereich pro Kanal: -1V bis 5V
o PMU pro Pin/Kanal
o Min. Durchsatz 800 Mb/s pro Kanal
o Speicher für mindestens 64M Vektoren
o Min 100Mb Capture-Speicher zur Aufnahme von gemessenen Daten
o Unterstützung von einfachen (single-ended) und differentiellen Kanälen
? Unterstützung für
o Scan-Test
o Speichertests
o Source-Synchronous Schaltungen (Prüfling liefert Taktsignal für dessen Ausgabesignale)
? Leicht zu transportierende Plattform
o außer Netzspannung und ggf. Netzwerkanschluss keine weiteren Anforderungen an die Betriebsumgebung und keine zusätzlich benötigten Medien
o Ein Gehäuse für die gesamte Messelektronik
o Maximalgewicht: 25kg
o Maximalmaße: 80cm (Länge) x 55cm (Breite) x 30cm (Höhe)
? Entwicklungsumgebung für Testprogramme
o Dedizierte Software zur Testprogrammerstellung
o Device Setup & Testablauf voll programmierbar
o Möglichkeit zur Entwicklung / Programmierung eigener Testprozeduren
? Das Testsystem muss für verpackte Chips und für Wafertests (mittels spezieller Interfaceboards nicht inklusive dieser Beschaffung) einsetzbar sein
o Schwenkbarer Manipulator
o Unterstützung von ggf. notwendigen Kabel mit einer Maximallänge von 6m
? Workstation (PC), falls für den Betrieb der Messelektronik notwendig
? Es muss möglich sein, das System mit dem Accretech UF200 Waferprober zu koppeln.
? Ausrüstung für Kalibrierung und Selbsttest
? On-site Training für mindestens 5 Personen.
Dauer: 1 Monate Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: 15236; Frankfurt (Oder).
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:
1. Nachweis einer Berufs- oder Betriebshaftpflichtversicherung.
2. Bescheinigung in Steuersachen.
Technische und berufliche Fähigkeiten:
Um die erforderliche technische und berufliche Leistungsfähigkeit des Bewerbers oder Bieters überprüfen zu können benötigen wir folgende Unterlagen:
1. Referenzen:
Es werden vergleichbare auftragsbezogene Firmenreferenzen in Bezug zur ausgeschriebenen Leistung erwartet. Vergleichbar heißt
Referenzen in Zusammenarbeit mit dem Auftrag.
Die Referenzen sind als Art Referenzbescheinigung durch den Bieter mit den folgenden Angaben mit der Angebotsabgabe einzureichen:
— Referenzgeber:
— Zeitraum Beginn/Ende der Ausführung:
— Kurzbeschreibung des Auftragsumfangs:
2. Beschreibung der technischen Ausrüstung, der Maßnahmen zur Qualitätssicherung und der Untersuchungs- und Forschungsmöglichkeiten des Unternehmens,
3. Erklärung, aus der ersichtlich ist, über welche Ausstattung, welche Geräte und welche technische Ausrüstung das Unternehmen für die Ausführung des Auftrags verfügt,
Verfahren
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 12:00
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2016-11-04 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2016-10-07 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 12:00
Ort des Eröffnungstermins: Frankfurt (Oder).
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Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden.
Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben.
Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und? sofern im konkreten Verfahren einschlägig? für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist.
Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und? sofern im konkreten Verfahren einschlägig? für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist.
Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden.
Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYEV.
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft und Europaangelegenheiten
Postanschrift: Heinrich-Mann-Allee 107
Postort: Potsdam
Postleitzahl: 14473
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 331/866-1719📞
Fax: +49 331/866-1652 📠 Für Mediationsverfahren zuständige Stelle Wie: Körper überprüfen Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Postanschrift: Im Technologiepark 25
Postort: Frankfurt (Oder)
Postleitzahl: 15236
Telefon: +49 335-5625-359📞
E-Mail: rohner@ihp-microelectronics.com📧
Fax: +49 335-5625-25359 📠
Quelle: OJS 2016/S 171-307140 (2016-09-01)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-01-19) Objekt Umfang der Beschaffung
Referenznummer: 2016/S 171-307140
Gesamtwert des Auftrags: 199 900 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge