Automatischer Waferprober & Testkopf

Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe

Ein vollautomatischer Wafertester zur elektrischen Charakterisierung von 300 mm/200 mm Wafern. Das Gesamtgerät ist in 2 Lose aufgeteilt; 1. Los Waferprober, 2. Los Testkopf.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-08-28. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-07-27.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2017-07-27 Auftragsbekanntmachung
2017-12-08 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
2017-12-08 Bekanntmachung über vergebene Aufträge