Automatischer Waferprober & Testkopf
Ein vollautomatischer Wafertester zur elektrischen Charakterisierung von 300 mm/200 mm Wafern. Das Gesamtgerät ist in 2 Lose aufgeteilt; 1. Los Waferprober, 2. Los Testkopf.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-08-28.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-07-27.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-07-27
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-12-08
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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| 2017-12-08
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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