Beschaffung eines Zweistrahlgeräts Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl ( FIB / SEM )
Das NMI möchte eines Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl ( FIB / SEM ) ausschreiben.
Die kompletten Vergabeunterlagen mit allen Spezifikationen sind auf unserer Homepage unter
http://www.nmi.de unter Aktuell – Ausschreibungen veröffentlicht.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-11-24.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-10-19.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum |
Dokument |
2017-10-19
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Auftragsbekanntmachung
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2017-11-24
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Ergänzende Angaben
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