Beschaffung eines Zweistrahlgeräts Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl ( FIB / SEM )

NMI Naturwissenschaftliches und Medizinisches Institut an der Universität Tübingen

Das NMI möchte eines Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl ( FIB / SEM ) ausschreiben.
Die kompletten Vergabeunterlagen mit allen Spezifikationen sind auf unserer Homepage unter http://www.nmi.de unter Aktuell – Ausschreibungen veröffentlicht.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-11-24. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-10-19.

Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2017-10-19 Auftragsbekanntmachung
2017-11-24 Ergänzende Angaben
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