EO006-17 Nanolab: Herstellung, Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training
Herstellung, Lieferung, Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training/Einweisung:
Das hochauflösende, vielseitige Raster-Kraftmikroskop (AFM) dient zur Charakterisierung von Oberflächen auf Nanoskala mittels unterschiedlicher Raster-Kraft Abbildungsmodi, Rastertunnelmikroskopie, sowie (simultane) Messung von Topographie und lokaler elektrischer Leitfähigkeit, quantitativen Kraft-Modus basierend auf Kraft-Abstandskurven, Raster Kraftspektroskopie, und Kelvin-Probe zur Messung von Oberflächenpotentialen. Die mit dem AFM zu charakterisierenden Proben umfassen Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies, Block Copolymere, poröse Systeme, Komposite und andere nanoskalige Probenoberflächen aller Materialklassen.
Das Raster-Kraftmikroskop muss elektrochemische Analysen in situ in einer elektrochemischen Umgebung ermöglichen.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-09-01.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-07-28.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-07-28
|
Auftragsbekanntmachung
|
| 2017-10-26
|
Bekanntmachung über vergebene Aufträge
|