EO006-17 Nanolab: Herstellung, Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training

Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY

Herstellung, Lieferung, Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training/Einweisung:
Das hochauflösende, vielseitige Raster-Kraftmikroskop (AFM) dient zur Charakterisierung von Oberflächen auf Nanoskala mittels unterschiedlicher Raster-Kraft Abbildungsmodi, Rastertunnelmikroskopie, sowie (simultane) Messung von Topographie und lokaler elektrischer Leitfähigkeit, quantitativen Kraft-Modus basierend auf Kraft-Abstandskurven, Raster Kraftspektroskopie, und Kelvin-Probe zur Messung von Oberflächenpotentialen. Die mit dem AFM zu charakterisierenden Proben umfassen Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies, Block Copolymere, poröse Systeme, Komposite und andere nanoskalige Probenoberflächen aller Materialklassen.
Das Raster-Kraftmikroskop muss elektrochemische Analysen in situ in einer elektrochemischen Umgebung ermöglichen.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-09-01. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-07-28.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• Bruker France SAS

Wer?

• Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY

Wie?

• Dunkelfeld- und Rastersondenmikroskope › Rastersondenmikroskope

Wo?

• Hamburg › Hamburg

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2017-07-28	Auftragsbekanntmachung
2017-10-26	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2017-07-28)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rastersondenmikroskope
Referenznummer: EO006-17 Nanolab
Kurze Beschreibung:

Herstellung, Lieferung, Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training/Einweisung: Das hochauflösende, vielseitige Raster-Kraftmikroskop (AFM) dient zur Charakterisierung von Oberflächen auf Nanoskala mittels unterschiedlicher Raster-Kraft Abbildungsmodi, Rastertunnelmikroskopie, sowie (simultane) Messung von Topographie und lokaler elektrischer Leitfähigkeit, quantitativen Kraft-Modus basierend auf Kraft-Abstandskurven, Raster Kraftspektroskopie, und Kelvin-Probe zur Messung von Oberflächenpotentialen. Die mit dem AFM zu charakterisierenden Proben umfassen Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies, Block Copolymere, poröse Systeme, Komposite und andere nanoskalige Probenoberflächen aller Materialklassen. Das Raster-Kraftmikroskop muss elektrochemische Analysen in situ in einer elektrochemischen Umgebung ermöglichen.

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rastersondenmikroskope 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Hamburg 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY
Postanschrift: Notkestraße 85
Postleitzahl: 22607
Postort: Hamburg
Kontakt
Internetadresse: http://desy.de 🌏
E-Mail: warenwirtschaft.v4sk@desy.de 📧
Telefon: +49 4089982480 📞
Fax: +49 4089984009 📠
URL der Dokumente: http://warenwirtschaft.desy.de/ausschreibungen/index_ger.html 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-07-28 📅
Einreichungsfrist: 2017-09-01 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-08-01 📅
Datum des Beginns: 2017-10-02 📅
Datum des Endes: 2017-12-20 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 145-298974
ABl. S-Ausgabe: 145
Zusätzliche Informationen

1. Die den Vergabeunterlagen beigefügten Formblätter sind zwingend zu verwenden. 2. Angebote sind ausschließlich über den Postweg oder direkt an die unter Ziff. I.1) benannte Stelle zu übermitteln. Elektronische Angebote werden nicht akzeptiert.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Herstellung, Lieferung, Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training/Einweisung:

Das hochauflösende, vielseitige Raster-Kraftmikroskop (AFM) dient zur Charakterisierung von Oberflächen auf Nanoskala mittels unterschiedlicher Raster-Kraft Abbildungsmodi, Rastertunnelmikroskopie, sowie (simultane) Messung von Topographie und lokaler elektrischer Leitfähigkeit, quantitativen Kraft-Modus basierend auf Kraft-Abstandskurven, Raster Kraftspektroskopie, und Kelvin-Probe zur Messung von Oberflächenpotentialen. Die mit dem AFM zu charakterisierenden Proben umfassen Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies, Block Copolymere, poröse Systeme, Komposite und andere nanoskalige Probenoberflächen aller Materialklassen.

Das Raster-Kraftmikroskop muss elektrochemische Analysen in situ in einer elektrochemischen Umgebung…

… ermöglichen.

… ermöglichen und die folgenden Spezifikationen erfüllen:

— Auflösung AFM Scanner lateral (x,y): Rauschen < 0.15 nm RMS.

— Höhenauflösung, AFM Scanner (z): Rauschen < 30 pm RMS.

— Minimaler Scan-Bereich, AFM Scanner (x,y): 80 µm × 80 µm.

— Minimaler Scan-Bereich, AFM Scanner (z): 10 µm.

— Auflösung des Translationstischs zur Lokalisation ausgewählter Probenregionen: 2 µm.

— Der Scan-Bereich des Translationstischs (x,y): muss ermöglichen, auf einem 4" Wafer alle Positionen zu untersuchen, ohne den Wafer neu einbauen zu müssen.

— Auflösung / Bildfeld des Lichtmikroskops: 200-1400 µm / 2 µm.

— In-situ Umgebungen für elektrochemische Messungen bis 60 °C und in Flüssigkeit.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:

— Aktueller Auszug (nicht älter als 12 Monate) aus dem Berufs- oder dem Handelsregister des Sitzes oder Wohnsitzes des Unternehmens.

— Schriftliche Bescheinigung der zuständigen Behörde, dass der Bieter seine…

… Verpflichtungen zur Zahlung von Steuern und Abgaben ordnungsgemäß erfüllt hat.

… Beiträge zur gesetzlichen Sozialversicherung ordnungsgemäß erfüllt hat.

— Eigenerklärung, dass keine schwere Verfehlung begangen worden ist, die die Zuverlässigkeit des Bieters in Frage stellt (siehe Vordruck „Eigenerklärung zur Eignung“).

Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:

— Eigenerklärung, dass kein Insolvenzverfahren oder ein vergleichbares gesetzliches Verfahren eröffnet

oder die Eröffnung beantragt worden ist oder ein Antrag mangels Masse abgelehnt wurde (siehe Vordruck „Eigenerklärung zur Eignung“).

— Eigenerklärung, dass das Unternehmen sich nicht in Liquidation befindet (siehe Vordruck „Eigenerklärung zur Eignung“).

— Eigenerklärung über den Gesamtumsatz des Unternehmens bezogen auf die letzten 3 Geschäftsjahre (Angabe pro Jahr).

Technische und berufliche Fähigkeiten:

— Schriftliche Referenzen (mindestens je 1x):

— für Serienfunktion;

— für Scan-Bereich des Translationstischs (geeignet, um auf einem 4" Wafer ohne Neueinbau des Wafers alle Regionen erreichen zu können;

— für quantitativen Kraft-Modus basierend auf pixelweisen Kraft-Abstandskurven

über bereits erbrachte Leistungen der geforderten Art mit Nennung von Kontaktdaten des Auftraggebers;

— Dokumentation über den Aufbau, die Funktionsweise und die geometrischen Abmessungen

des gemäß Ausschreibung angebotenen Mikroskops.

Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung: Gemäß Vergabeunterlagen.

Verfahren
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 23:59
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2017-10-30 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2017-09-04 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 10:00

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Stiftung bürgerlichen Rechts
Kontakt
Adresse des Käuferprofils: http://warenwirtschaft.desy.de/ausschreibungen/index_ger.html 🌏
Dokumente URL: http://warenwirtschaft.desy.de/ausschreibungen/index_ger.html 🌏

Referenz
Zusätzliche Informationen

1. Die den Vergabeunterlagen beigefügten Formblätter sind zwingend zu verwenden.

2. Angebote sind ausschließlich über den Postweg oder direkt an die unter Ziff. I.1) benannte Stelle zu übermitteln. Elektronische Angebote werden nicht akzeptiert.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes
Postanschrift: Villemombler Str. 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

a) Gemäß § 134 Abs. 2 GWB darf ein Vertrag erst 15 Kalendertage nach Absendung der Information über die geplante Auftragsvergabe an die nicht berücksichtigten Bieter geschlossen werden. Wird die Information per Fax oder auf elektronischem Weg versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Tage. Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter oder Bewerber kommt es nicht an.

b) § 160 Abs. 3 GWB: Der Antrag auf Einleitung des Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit:

(1) der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb von 10 Tagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Abs. 2 GWB bleibt unberührt,

(2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

(3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

(4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrages nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. 3§ 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.

Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Quelle: OJS 2017/S 145-298974 (2017-07-28)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-10-26)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 252 941 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-10-26 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-10-31 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 209-433066
Verweist auf Bekanntmachung: 2017/S 145-298974
ABl. S-Ausgabe: 209

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

— Auflösung AFM Scanner lateral (x,y): Rauschen < 0.15 nm RMS

— Höhenauflösung, AFM Scanner (z): Rauschen < 30 pm RMS

— Minimaler Scan-Bereich, AFM Scanner (x,y): 80 µm × 80 µm

— Minimaler Scan-Bereich, AFM Scanner (z): 10 µm

— Auflösung des Translationstischs zur Lokalisation ausgewählter Probenregionen: 2 µm

— Auflösung / Bildfeld des Lichtmikroskops: 200-1400 µm / 2 µm

Verfahren
Vergabekriterien
Kostenkriterium: Preis
Gewichtung der Kosten: 80
Kostenkriterium: Lieferzeit
Gewichtung der Kosten: 20

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2017-09-25 📅

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

a) Gemäß § 134 Abs.2 GWB darf ein Vertrag erst 15 Kalendertage nach Absendung der Information über die geplante Auftragsvergabe an die nicht berücksichtigten Bieter geschlossen werden. Wird die Information per Fax oder auf elektronischem Weg versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Tage. Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter oder Bewerber kommt es nicht an.

Quelle: OJS 2017/S 209-433066 (2017-10-26)

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