Fully Automated Wafer-prober
Fully Automated Wafer-prober
A fully automated probe station shall be purchased for characterizing noise characteristics and performing parameter measurements on wafers in clean room environment. Continuation in II.2.4.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-10-30.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-10-13.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-10-13
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-11-07
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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