High Resolution Atomic Force Microscope
Nanoscale probe system: a high-resolution atomic force microscope (AFM) suitable for opera-tion with an inverted optical microscope and as a standalone unit. In the first case, the AFM should be customized to be able to perform specific nano-optical experiments and involve a set of high-numerical aperture (NA) objectives to be employed with the custom AFM system mounted on an inverted microscope. Moreover, the AFM should be employed with liquids for experiments related to biointerfaces.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-01-11.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-12-11.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-12-11
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Auftragsbekanntmachung
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| 2018-03-12
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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