Hochspannungs-Wafer-Sondenstation
Benötigt wird ein Gerät zur Vermessung von Leistungshalbleitern auf Waferlevel. Dieses soll kleine und große Halbleiterchips auf Waferlevel bei einer Spannung von bis zu mindestens 10 kV und Strömen von bis zu mindestens 500 A gepulst vermessen können. Die Anwendersicherheit beim Vermessen und Testen der Wafer hat dabei höchste Priorität.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-11-07.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-10-23.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2017-10-23
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Auftragsbekanntmachung
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