Laser Anneal System for metal contact sintering on silicon carbide
Laser Anneal System zur Bildung Ohm'scher Kontakte durch die Metallsinterung auf der Rückseite (C-Seite) der SiC Wafer und für Dotiermittelaktivierung von implantierten Ionen in der Rückseite; Annealing nur auf der Rückseite, keine signifikante Temperaturerhöhung auf der Vorderseite, insbesondere für gedünnte Wafer mit einer Dicke im Bereich von unter 100 µm; Reinraumkompatibel (Reinraumklasse 100); Manuelles Handling von 4'' und 6'' Wafern (optional 8''); UV-Laser (355 nm) mit einer Ausgangsleistung im Bereich von 7-10 W; Pulsweite <60 ns; Galvano Scanner; Computergesteuert: Überwachung von Laserleistung, Strahlprofil, energy at wafer, pulse shape; Prozessatmosphäre N2 oder Ar; kleine Grundfläche, CE Zertifizierung; Vor-Ort-Training.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-06-26.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-06-08.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
2017-06-08
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Auftragsbekanntmachung
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2017-06-29
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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