Messplätze für automatisierte IC-Qualifizierung
Am Fraunhofer IIS-EAS werden integrierte Schaltungen mittels neuartiger Designverfahren entworfen und verifiziert. Anschließend erfolgt eine Validierung der Ergebnisse anhand gefertigter Chips in Bezug auf deren Funktionalität, Zuverlässigkeit und Robustheit. Diese Evaluation erfordert ein hohes Maß an Hardwaretests, welche zuverlässig, reproduzierbar aber auch zeiteffizient durchgeführt werden müssen. Zu diesem Zweck soll ein automatisiertes, universelles Messsystem beschafft werden.Derzeit werden speziell an den jeweiligen Chip angepasste Evaluationsplatinen gefertigt. Diese werden im Messsetup mit verschiedenen Signalquellen und Messgeräten verbunden, welche einzeln zu konfigurieren sind. Eine zentrale Steuerung ist derzeit nur beschränkt möglich..Die Verwendung von angepassten Evaluationsplatinen schränkt die Flexibilität der Messungen erheblich ein.Fortsetzung in II.2.4.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-06-22.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-06-02.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
2017-06-02
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Auftragsbekanntmachung
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2017-07-17
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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