Messsystem zur Charakterisierung und Niederfrequenz-Rauschanalyse von Halbleiterbauelementen
Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in 2 Losen
Los1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungen sowie mit Schaltmatrix angeschafft werden.
Los2: Für die Messung von Flicker-Rauschen und niederfrequenten Rauschanteilen sowie 1/f Charakteristika von integrierten Bauelementen soll ein geeignetes Testsystem mit entsprechender Auswerteunterstützung angeschafft werden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-07-03.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-06-01.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-06-01
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-07-18
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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| 2017-08-18
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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