Messsystem zur Charakterisierung und Niederfrequenz-Rauschanalyse von Halbleiterbauelementen

Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe

Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in 2 Losen
Los1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungen sowie mit Schaltmatrix angeschafft werden.
Los2: Für die Messung von Flicker-Rauschen und niederfrequenten Rauschanteilen sowie 1/f Charakteristika von integrierten Bauelementen soll ein geeignetes Testsystem mit entsprechender Auswerteunterstützung angeschafft werden.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-07-03. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-06-01.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• BSW TestSystems & Consulting AG

Wer?

• Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe

Wie?

• Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) › Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen

Wo?

• Oberbayern › München, Kreisfreie Stadt
• Sachsen › Dresden

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2017-06-01	Auftragsbekanntmachung
2017-07-18	Bekanntmachung über vergebene Aufträge
2017-08-18	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2017-06-01)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Referenznummer: E_048_247869 deyda-AHö
Kurze Beschreibung:

Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in 2 Losen Los1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungen sowie mit Schaltmatrix angeschafft werden. Los2: Für die Messung von Flicker-Rauschen und niederfrequenten Rauschanteilen sowie 1/f Charakteristika von integrierten Bauelementen soll ein geeignetes Testsystem mit entsprechender Auswerteunterstützung angeschafft werden.

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen 📦
Zusätzlicher CPV-Code: Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Dresden 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
Postanschrift: Hansastr. 27c
Postleitzahl: 80686
Postort: München
Kontakt
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de 🌏
E-Mail: fraunhofer@deutsche-evergabe.de 📧
URL der Dokumente: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏
URL der Teilnahme: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-06-01 📅
Einreichungsfrist: 2017-07-03 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-06-03 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 106-212002
ABl. S-Ausgabe: 106
Zusätzliche Informationen

— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden. – Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB).

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in 2 Losen

Los1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungen sowie mit Schaltmatrix angeschafft werden.

Los2: Für die Messung von Flicker-Rauschen und niederfrequenten Rauschanteilen sowie 1/f Charakteristika von integrierten Bauelementen soll ein geeignetes Testsystem mit entsprechender Auswerteunterstützung angeschafft werden.

Bezeichnung des Loses: 1 St. Analysesystem mit Fast SMU, SMU, LCR-Meter und Switchmatrix
Losnummer: 1
Kurze Beschreibung:

Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungen sowie mit Schaltmatrix angeschafft werden.

Dauer: 10 Monate
Beschreibung der Optionen: Los 1: Optionen gemäß Leistungsverzeichnis.
Bezeichnung des Loses: 1 St. Messsystem für Flicker- und Niederfrequenz-Rauschen
Losnummer: 2
Kurze Beschreibung:

Für die Messung von Flicker-Rauschen und niederfrequenten Rauschanteilen sowie 1/f Charakteristika von integrierten Bauelementen soll ein geeignetes Testsystem mit entsprechender Auswerteunterstützung angeschafft werden.

Beschreibung der Optionen: Los 2: Optionen gemäß Leistungsverzeichnis.
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: 01099 Dresden.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung:

Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.

Verfahren
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 23:59
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2017-08-25 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2017-07-04 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 12:00

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Forschungsgesellschaft e. V.
Kontakt
Adresse des Käuferprofils: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏
Dokumente URL: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemomblerstraße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.

Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal eVergabe
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de 🌏
Quelle: OJS 2017/S 106-212002 (2017-06-01)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-07-18)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in 2 Losen: Los 1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungen sowie mit Schaltmatrix angeschafft werden. Los 2: Für die Messung von Flicker-Rauschen und niederfrequenten Rauschanteilen sowie 1/f Charakteristika von integrierten Bauelementen soll ein geeignetes Testsystem mit entsprechender Auswerteunterstützung angeschafft werden.

Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-07-18 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-07-22 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 139-285249
Verweist auf Bekanntmachung: 2017/S 106-212002
ABl. S-Ausgabe: 139
Zusätzliche Informationen

— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden. — Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB).

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in 2 Losen:

Los 1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungen sowie mit Schaltmatrix angeschafft werden.

Los 2: Für die Messung von Flicker-Rauschen und niederfrequenten Rauschanteilen sowie 1/f Charakteristika von integrierten Bauelementen soll ein geeignetes Testsystem mit entsprechender Auswerteunterstützung angeschafft werden.

Verfahren
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Technische Ausführung
Qualitätskriterium (Gewichtung): 55
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Service
Qualitätskriterium (Gewichtung): 10
Gewichtung des Preises: 35

Referenz
Zusätzliche Informationen

— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden.

— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB).

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI 4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-08-18)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Referenznummer: E_048_247869 deyda
Kurze Beschreibung:

Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in zwei Losen Los 1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungensowie mit Schaltmatrix angeschafft werden. Los 2: Wurde aufgehoben.

Gesamtwert des Auftrags: 0.01 EUR 💰

Verfahren
Vergabekriterien
Gemischt

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧
Telefon: +49 891205-3234 📞

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-08-18 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-08-23 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 160-330264
ABl. S-Ausgabe: 160

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Analysesystem und Messsystem zum Flickerrauschen in zwei Losen

Los 1: Für die Charakterisierung einer großen Anzahl an Wafern und zur Entwicklung einer inline-Rauschparametermessung soll ein Halbleiterparametermesssystem mit Unterstützung von Rauschmessungensowie mit Schaltmatrix angeschafft werden.

Los 2: Wurde aufgehoben.

Bezeichnung des Loses: Messsystem zur Charakterisierung und Niederfrequenz-Rauschanalyse von Halbleiterbauelementen

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2017-08-10 📅

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: David Deyl

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI 4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I 1 genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §107 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden sollen, werden vor dem Zuschlag gem. §101a GWB informiert.

Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Name: Vergabeprüfstelle des BMBF Referat Z 23
Postanschrift: Heinemannstraße 2
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53175
Land: Deutschland 🇩🇪
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e .V. über Vergabeportal eVergabe
Quelle: OJS 2017/S 160-330264 (2017-08-18)

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