Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie
Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben, 2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen.
In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-06-02.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-04-27.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2017-04-27
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-08-28
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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