Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie

IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Das Rasternahfeldmikroskop muss in der Lage sein, bildgebend und spektroskopisch Standardhalbleiterproben, 2-dimensionales Material (z. B. Graphen), organisches und anorganisches Material und Biomaterialien zu untersuchen. Das Arbeitsprinzip muss dem Atomkraftmikroskop (AFM), wo mittels AFM-Spitze (tip) die Probe bildgebend untersucht wird, entsprechen. Der Abbildungsfokus der Spitze liegt im Nanometerbereich.
Die Plattform:
Blendenfreies Nahfeldrastern für hochqualitative optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen und organischer Polymere ohne Faseroptik.
Das System muss bildgebend im Bereich sub-THz bis sichtbarem Licht sein.
Das System muss im konventionellen AFM modus einsetzbar sein
Eine räumliche Auflösung von 10nm (vorgegeben durch die AFM Spitze) ist erforderlich.
Ein modularer Aufbau des Mikroskops, mit der Fähigkeit durch weitere Module die Funktionalität zu erhöhen, ist wichtig.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-07-17. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-06-09.

Wer?

• IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Wie?

• Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

Wo?

• Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2017-06-09	Auftragsbekanntmachung

Auftragsbekanntmachung (2017-06-09)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Referenznummer: IHP-2017-038_2
Kurze Beschreibung:

Das Rasternahfeldmikroskop muss in der Lage sein, bildgebend und spektroskopisch Standardhalbleiterproben, 2-dimensionales Material (z. B. Graphen), organisches und anorganisches Material und Biomaterialien zu untersuchen. Das Arbeitsprinzip muss dem Atomkraftmikroskop (AFM), wo mittels AFM-Spitze (tip) die Probe bildgebend untersucht wird, entsprechen. Der Abbildungsfokus der Spitze liegt im Nanometerbereich. Die Plattform: Blendenfreies Nahfeldrastern für hochqualitative optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen und organischer Polymere ohne Faseroptik. Das System muss bildgebend im Bereich sub-THz bis sichtbarem Licht sein. Das System muss im konventionellen AFM modus einsetzbar sein Eine räumliche Auflösung von 10nm (vorgegeben durch die AFM Spitze) ist erforderlich. Ein modularer Aufbau des Mikroskops, mit der Fähigkeit durch weitere Module die Funktionalität zu erhöhen, ist wichtig.

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Postanschrift: Im Technologiepark 25
Postleitzahl: 15236
Postort: Frankfurt (Oder)
Kontakt
Internetadresse: http://www.ihp-microelectronics.com 🌏
E-Mail: rohner@ihp-microelectronics.com 📧
Telefon: +49 335-5625-359 📞
Fax: +49 335-5625-25359 📠
URL der Dokumente: https://vergabemarktplatz.brandenburg.de/VMPCenter/company/announcements/categoryOverview.do?method=search&searchString=%22CXSTYYDYYAD%22 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-06-09 📅
Einreichungsfrist: 2017-07-17 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-06-14 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 112-225014
ABl. S-Ausgabe: 112
Zusätzliche Informationen

Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg http://vergabemarktplatz.brandenburg.de Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen dort herunterladen. Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden. Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben. Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und – sofern im konkreten Verfahren einschlägig – für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist. Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden. Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYAD.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Die Plattform:

Blendenfreies Nahfeldrastern für hochqualitative optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen und organischer Polymere ohne Faseroptik.

Das System muss bildgebend im Bereich sub-THz bis sichtbarem Licht sein.

Das System muss im konventionellen AFM modus einsetzbar sein

Eine räumliche Auflösung von 10nm (vorgegeben durch die AFM Spitze) ist erforderlich.

Ein modularer Aufbau des Mikroskops, mit der Fähigkeit durch weitere Module die Funktionalität zu erhöhen, ist wichtig.

Geschätzter Gesamtwert: 650 000 EUR 💰
Kurze Beschreibung:

Atomkraftmikroskop:

Für die oben beschriebene Plattform ist ein kompakter Aufbau mit einfacher, motorisierter Probeneinschleusung und Auswahl des Untersuchungsgebietes erforderlich.

Es muss eine Rastergeschwindigkeit bis 20 Müm/s realisierbar sein.

Ein hohes Signal/Rauschverhältnis ist bei Unterdrückung des optischen Untergrundsignales erforderlich. Dazu ist ein Tasten der AFM-Spitze (tapping) erforderlich, bei dem die Spitze nur das optische Signal und nicht den Hintergrund moduliert.

Die AFM-Spitze muss bis zu einem horizontalen Winkel von 180Grad und vertikal bis 60Grad bildgebend und spektroskopisch wirksam sein.

Standard AFM cantilever müssen einsetzbar sein.

Optische Hellfeldmikroskopie ist erforderlich.

Ein effektives Spiegeldesign zum Sammeln und Bündeln von Licht ist erforderlich.

Der Aufbau muss Bildgebung und Spektroskopie ermöglichen.

Die Bildgebung und Detektierung muss:

Im sichtbaren, MID-IR und THz-Bereich (0.3 – 3THz) durchführbar sein.

Organisches, anorganisches, halbleitendes Material und plasmonische Strukturen mittels „Mapping“ des elektrischen Feldes charakterisieren.

In der Lage sein, im Nanometerbereich sowohl im sichtbarem als auch im MID-IR abbildend zu arbeiten.

Interferometrisch für optische Amplituden- und Phasenbestimmung arbeiten.

Amplituden- wie auch phasenspezifisch sein

Für Reflektion als auch Durchstrahlung (Transmission) einsatzfähig sein.

In der Lage sein, im Frequenzbereich von sub-THz bis sichtbares Licht zu detektieren.

Für verschiedenste Operationen einen Strahlteiler haben, der modular und auswechselbar aufgebaut ist.

Im Durchstrahlungsmodus die Probe von der Rückseite beleuchten.

Dazu ist die Beleuchtung mit planarem Licht erforderlich.

Nahfeldbelichtungseinheit mit 633nm Wellenlänge haben.

Nahfeldbelichtungseinheit mit einer durchstimmbaren Wellenlänge zwischen 9,3Müm – 10,8Müm haben.

Nahfeldspektroskopie für fouriertransformietres Infrarot (FTIR)

Nahfeld nanoFTIR ist erforderlich.

Mit einer durchstimmbaren FTIR-Lichtquelle zwischen 5 – 15Müm.

Das FTIR Modul muss zur gleichzeitigen Bestimmung des Brechungsindexes und der Absorption einsetzbar sein.

Ein hohes Signal/Rauschverhältnis muss durch Entkoppeln des Hintergrundrauschens vom spektroskopischen Signal erreicht werden.

TeraHertz zeitbasierte Spektroskopie (THZ-TDS)

Das Gerät muss zur Nahfeldbildgebung und -spektroskopie in der Lage sein.

Die Messfrequenzen liegen zwischen 0,1 THZ und 3 THz.

Das Gerät muss zur zeitbasierten Spektroskopie in der Lage sein.

Das Gerät muss dafür einen Femtosekundenlaser einsetzen.

Kontrollsystem und Software

Es ist ein motorisiertes System zur Probenpositionierung erforderlich.

Das Gerät darf keine zusätzliche Vakuumkammer zur Messung erfordern.

Die optische Signalverarbeitungseinheit und der Scancontroller müssen synchron mit der AFM Mechanik und dem optischen Signal sein.

Die Software und Signalprozessierung muss in der Lage sein, das optische Untergrundsignal zu unterdrücken.

Entsprechend muss Software für optische Bildgebung und der Spektroskopiemodule vorhanden sein.

Eine Echtzeitvisualisierung ist erforderlich. Kontroll- und Scansoftware für AFM und optische Signale ist erforderlich.

Die Kontroll- und Datenverarbeitungseinheit muss 1D, 2D und 3D Scans unterstützen.

Es ist Software zur Datenvisualisierung und Analyse der AFM-Topografie und optischen Nahaufnahme erforderlich.

Zur nutzerfreundlichen Echtzeitarbeit sind 2 Displays mit 23Zoll erforderlich.

Es muss ein Fernzugriff durch den Nutzer integriert sein, ebenso ist eine Bedienungsanleitung für Hard- und Software einschließlich technischer Spezifikation erforderlich.

Geschätzter Wert ohne MwSt: 650 000 EUR 💰
Dauer: 2 Monate
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort:

IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik; Im Technologiepark 25; 15236; Frankfurt (Oder).

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:

— Bescheinigung in Steuersachen.

Der AG behält sich vor Auftragsvergabe vor, eine Anfrage bei dem zuständigen Anti-Korruptionsregister sowie beim Gewerbezentralregisteramt durchzuführen.

Technische und berufliche Fähigkeiten:

Um die erforderliche technische und berufliche Leistungsfähigkeit des Bewerbers oder Bieters überprüfen zu können benötigen wir folgende Unterlagen:

1. Referenzen:

Es werden vergleichbare auftragsbezogene Firmenreferenzen in Bezug zur ausgeschriebenen Leistung erwartet. Vergleichbar heißt

Referenzen in Zusammenarbeit mit dem Auftrag.

Die Referenzen sind als Art Referenzbescheinigung durch den Bieter mit den folgenden Angaben mit der Angebotsabgabe einzureichen:

— Referenzgeber:

— Zeitraum Beginn/Ende der Ausführung:

— Kurzbeschreibung des Auftragsumfangs:

2. Beschreibung der technischen Ausrüstung, der Maßnahmen zur Qualitätssicherung und der Untersuchungs- und Forschungsmöglichkeiten des Unternehmens,

3. Erklärung, aus der ersichtlich ist, über welche Ausstattung, welche Geräte und welche technische Ausrüstung das Unternehmen für die Ausführung des Auftrags verfügt,

Verfahren
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 12:00
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Englisch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2017-08-13 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2017-07-17 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 12:00
Ort des Eröffnungstermins: Frankfurt (Oder).

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Forschung und Entwicklung
Kontakt
Kontaktperson: Beschaffung
Internetadresse: www.ihp-microelectronics.com 🌏
Dokumente URL: https://vergabemarktplatz.brandenburg.de/VMPCenter/company/announcements/categoryOverview.do?method=search&searchString=%22CXSTYYDYYAD%22 🌏

Referenz
Zusätzliche Informationen

Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg

http://vergabemarktplatz.brandenburg.de

Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen dort herunterladen.

Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden.

Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben.

Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und – sofern im konkreten Verfahren einschlägig – für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist.

Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden.

Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYAD.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft und Europaangelegenheiten
Postanschrift: Heinrich-Mann-Allee 107
Postort: Potsdam
Postleitzahl: 14473
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 331/866-1719 📞
Fax: +49 331/866-1652 📠
Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Name: IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Postanschrift: Im Technologiepark 25
Postort: Frankfurt (Oder)
Postleitzahl: 15236
Telefon: +49 335-5625-359 📞
E-Mail: rohner@ihp-microelectronics.com 📧
Fax: +49 335-5625-25359 📠
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Wie: Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Quelle: OJS 2017/S 112-225014 (2017-06-09)

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