Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie

IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben, 2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen.
In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-06-02. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-04-27.

Wer?

• IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Wie?

• Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

Wo?

• Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2017-04-27	Auftragsbekanntmachung
2017-08-28	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2017-04-27)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Referenznummer: IHP-2017-038
Kurze Beschreibung:

Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben, 2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen. In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Postanschrift: Im Technologiepark 25
Postleitzahl: 15236
Postort: Frankfurt (Oder)
Kontakt
Internetadresse: http://www.ihp-microelectronics.com 🌏
E-Mail: rohner@ihp-microelectronics.com 📧
Telefon: +49 335-5625-359 📞
Fax: +49 335-5625-25359 📠
URL der Dokumente: https://vergabemarktplatz.brandenburg.de/VMPCenter/company/announcements/categoryOverview.do?method=search&searchString=%22CXSTYYDYYLW%22 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-04-27 📅
Einreichungsfrist: 2017-06-02 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-04-29 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 084-162914
ABl. S-Ausgabe: 84
Zusätzliche Informationen

Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg http://vergabemarktplatz.brandenburg.de Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen dort herunterladen. Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden. Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben. Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und – sofern im konkreten Verfahren einschlägig – für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist. Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden. Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYLW.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.

Plattform:-

— Apertureless Nahfeld-Scan-Technologie für hochwertige optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen, organischen Polymeren, ohne Verwendung von Fasern.

— Fähigkeit, Frequenzbereich von sub-THz bis hin zu sichtbarem Spektrum zu akzeptieren

— Anforderung an eine hochstabile Atomkraftmikroskopie (AFM) optimierte Einrichtung, die für alle Proben geeignet ist, die mit der Standard-AFM-Technik kompatibel sind. Standard AFM Probenvorbereitung erforderlich

— räumliche Auflösung in der Größenordnung von 10 nm. Die räumliche Auflösung sollte durch die AFM-Spitze definiert werden.

— Das Werkzeug sollte modular sein, wo verschiedene Bild- und Spektroskopiemodule hinzugefügt werden können, um die Funktionalität des Werkzeugs zu erhöhen

Imaging und Detektion System: -

— Fähigkeit zur Abbildung im visuellen Spektrum und MID-IR-Spektrumbereiche.

— Fähigkeit zur elektrischen Feldabbildung von organischen, anorganischen, Halbleiterproben und plasmonischen Strukturcharakterisierung.

— Fähigkeit zur Charakterisierung von 2D-Halbleitern mit Empfindlichkeit bis zur Einzelmonoschicht.

— Sollte die Nano-Imaging-Fähigkeit mit austauschbaren sichtbaren Strahlengang-Konfiguration und MID-IR-Strahlengang Konfiguration.

— Anforderung eines interferometrischen Strahlengangs für optische Amplituden- und Phasendetektion.

— Anforderung von Reflexions- und Getriebeerkennungsmodulen.

— Die Module sollten in der Lage sein, den Frequenzbereich von Sub-THz zu sichtbarem Spektrum zu erfassen.

— Anforderung einer modularen und austauschbaren Strahlteileranordnung für unterschiedliches Betriebs- betrieb.

— Für den interferometrischen Strahlengang für Amplituden- und Phasenmessungen sollte der Detektor in der Lage sein, eine Amplituden- und Phasenauflösungserfassung zu ermöglichen.

— Abmessungen der Bodenbeleuchtung für den Transmissionsmodus-Detektor möglich.

— Der Übertragungsmodus-Detektor sollte für die Wellenwellenbeleuchtung geeignet sein.

Nahfeld-Spektroskopie-Modul (FTIR)

— Fähigkeit des Nahfeldes Nano FTIR.

— Das FTIR-Modul sollte auch interferometrisches Design aufweisen, das gleichzeitig den Brechungsindex und die Extinktion messen kann.

— Ermöglicht das Erreichen eines hohen Signal-Rausch-Verhältnisses des Spektroskopiesignals durch Entkoppeln des Hintergrund-Rauschens.

TeraHertz Zeitbereich Spektroskopie

— Fähigkeit, Nahfeld Tera Hertz Bildgebung und Spektroskopie.

— Ermöglicht die Messung des Frequenzbereichs von 0,1 THz bis 3 THz.

— Fähigkeit der Zeitdomäne THz Spektroskopie.

— Die Arbeit des Werkzeuges sollte auf dem Femtosekunden-Laser basieren.

Dauer: 2 Monate
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort:

IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik; Im Technologiepark 25; 15236; Frankfurt (Oder).

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:

— Bescheinigung in Steuersachen.

Der AG behält sich vor Auftragsvergabe vor, eine Anfrage bei dem zuständigen Anti-Korruptionsregister sowie beim Gewerbezentralregisteramt durchzuführen.

Technische und berufliche Fähigkeiten:

Um die erforderliche technische und berufliche Leistungsfähigkeit des Bewerbers oder Bieters überprüfen zu können benötigen wir folgende Unterlagen:

1. Referenzen:

Es werden vergleichbare auftragsbezogene Firmenreferenzen in Bezug zur ausgeschriebenen Leistung erwartet. Vergleichbar heißt

Referenzen in Zusammenarbeit mit dem Auftrag.

Die Referenzen sind als Art Referenzbescheinigung durch den Bieter mit den folgenden Angaben mit der Angebotsabgabe einzureichen:

— Referenzgeber:

— Zeitraum Beginn/Ende der Ausführung:

— Kurzbeschreibung des Auftragsumfangs:

2. Beschreibung der technischen Ausrüstung, der Maßnahmen zur Qualitätssicherung und der Untersuchungs- und Forschungsmöglichkeiten des Unternehmens,

3. Erklärung, aus der ersichtlich ist, über welche Ausstattung, welche Geräte und welche technische Ausrüstung das Unternehmen für die Ausführung des Auftrags verfügt,

Verfahren
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 12:00
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Englisch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2017-06-30 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2017-06-02 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 12:00
Ort des Eröffnungstermins: Frankfurt (Oder).

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Forschung und Entwicklung
Kontakt
Kontaktperson: Beschaffung
Internetadresse: www.ihp-microelectronics.com 🌏
Dokumente URL: https://vergabemarktplatz.brandenburg.de/VMPCenter/company/announcements/categoryOverview.do?method=search&searchString=%22CXSTYYDYYLW%22 🌏

Referenz
Zusätzliche Informationen

Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg

http://vergabemarktplatz.brandenburg.de

Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen dort herunterladen.

Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden.

Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben.

Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und – sofern im konkreten Verfahren einschlägig – für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist.

Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden.

Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYLW.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft und Europaangelegenheiten
Postanschrift: Heinrich-Mann-Allee 107
Postort: Potsdam
Postleitzahl: 14473
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 331/866-1719 📞
Fax: +49 331/866-1652 📠
Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Name: IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Postanschrift: Im Technologiepark 25
Postort: Frankfurt (Oder)
Postleitzahl: 15236
Telefon: +49 335-5625-359 📞
E-Mail: rohner@ihp-microelectronics.com 📧
Fax: +49 335-5625-25359 📠
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Wie: Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Quelle: OJS 2017/S 084-162914 (2017-04-27)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-08-28)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Ort der Leistung
NUTS-Region: Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt 🏙️

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Name des öffentlichen Auftraggebers: IHP GmbH

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-08-28 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-08-31 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 166-341638
Verweist auf Bekanntmachung: 2017/S 084-162914
ABl. S-Ausgabe: 166

Verfahren
Vergabekriterien
Kostenkriterium: Preis
Gewichtung der Kosten: 40 %
Kostenkriterium: Funktionalität entsprechend Anforderungen in der Leistungsbeschreibung
Gewichtung der Kosten: 60 %

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: S. Rohner
Quelle: OJS 2017/S 166-341638 (2017-08-28)

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