SPV measurement tool
Surface photovoltage (SPV) measurement tool. The SPV tool will be used for the monitoring of the cleanness of 200 mm wafers and different types of equipment (furnaces, lithography tools, etching tools and other) in a CMOS compatible cleanroom class 10 (appr. class 4 EN ISO 14644-1).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-09-01.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-08-02.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum |
Dokument |
2017-08-02
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Auftragsbekanntmachung
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2017-12-14
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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