Weißlichtinterferometer
Gefordert ist ein Messsystem für die weißlichtinterferometrische Vermessung von unterschiedlichster Oberflächenstrukturen und Rauheit auf Proben mit einer lateralen Ausdehnung von mindestens 300 mm x 450 mm, einer Bauteilhöhe von mindestens 250 mm und Masse bis zu 25 kg einschließlich Bedien- und Auswertesoftware.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-07-07.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-06-15.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
2017-06-15
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Auftragsbekanntmachung
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