Zwei Halbautomatische Waferprober mit Loader System
Für die Charakterisierung der Eigenschaften von nichtflüchtigen Speicherzellen bis hin zu komplexeren Speicherfeldern soll ein halbautomatischer Waferprober angeschafft werden.
Für die Charakterisierung der Zuverlässigkeitseigenschaften von Dielektrika und Metallisierungen in einem großen Temperaturbereich soll ein inerter Waferprober einschließlich apparativer Ausstattung zur Zuverlässigkeitscharakterisierung angeschafft werden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-10-02.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-09-07.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2017-09-07
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Auftragsbekanntmachung
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