Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF-SIMS)
Ausgeschrieben wird ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF-SIMS) für die orts-und massenaufgelöste Oberflächenspektrometrie vor allem aber Tiefenprofilanalyse von organischen und anorganischen Festkörperoberflächen im Rahmen von Materialentwicklung, Prozesskontrolle und Fehleranalyse.
Es soll ein funktionsfähiges Komplettgerät inklusive Aufbau, Inbetriebnahme sowie Training von Nutzern angeboten werden. Nachfolgend sind die Systemspezifikationen beschrieben. Sofern nicht anderweitig beschrieben, sind alle Spezifikationen im Rahmen der Abnahme nach erfolgter Installation vor Ort nachzuweisen.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-04-13.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2018-03-14.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2018-03-14
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Auftragsbekanntmachung
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| 2018-05-30
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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