Optisches Rasternahfeldmikroskop
Für geplante Forschungsprojekte im Zentrum für Materialien, Architekturen und Integration von Nanomembranen (MAIN) soll ein auf Rasterkraftmikroskopie basierendes optisches Rasternahfeldmikroskop (scanning nearfield optical microscope (SNOM)) für Infrarot-Spektroskopie und -Bildgebung (Imaging) mit einer lateralen Auflösung im Nanometer-Bereich beschafft werden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-04-09.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2018-02-28.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2018-02-28
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Auftragsbekanntmachung
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| 2018-05-03
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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