Transmissionselektronenmikroskop
Transmissionselektronenmikroskop.
Das Fraunhofer IMWS sucht ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM), welches auch als Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) betrieben werden kann, mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von 200 kV zur mikrostrukturellen Charakterisierung von Materialproben. Die Möglichkeit Elementverteilungsbilder auf der Basis energiedispersiver Röntgenspektrometrie aufzunehmen ist eine zentrale Funktionalität des Gerätes. Nachfolgend sind die Anforderungen an ein solches Gerät beschrieben.
Es soll ein funktionsfähiges Komplettgerät inklusive Aufbau, Inbetriebnahme sowie aller notwendiger Anschlüsse angeboten werden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-04-03.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2018-03-01.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2018-03-01
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Auftragsbekanntmachung
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| 2018-04-25
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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